[发明专利]一种嵌入式设备文件的校验方法及系统

权利要求书

1.一种嵌入式设备文件的校验方法，其用于对将嵌入式设备中的嵌入式设备文件下载到上位机之后的文件的完整性进行校验，该校验方法的特征在于，其包括如下步骤：

采样参数设定步骤，设定将嵌入式设备文件划分成多个数据大小相等的数据块的大小和针对所述数据块的采样间隔；

数据块采样步骤，所述上位机按照已定义的所述采样间隔，对所述嵌入式设备文件的所述数据块进行采样，得到上位机采样数据块；

校验信息生成步骤，所述上位机计算每个所述上位机采样数据块的散列值，将所有散列值按字节累加，得到第一累加散列值，并基于此得到针对所述嵌入式设备文件的文件校验值，其中，先确定所述上位机中所述嵌入式设备文件的大小，得到第一文件大小值，而后将所述第一文件大小值与所述第一累加散列值拼接，得到所述文件校验值；

校验结果生成步骤，所述嵌入式设备接收所述文件校验值，对所述文件校验值进行校验判定，并将校验结果反馈至所述上位机，完成所述嵌入式设备文件的校验，其中包括：

解析所述文件校验值，确定所述嵌入式设备中所述嵌入式设备文件的大小，得到第二文件大小值，而后将所述第一文件大小值与所述第二文件大小值进行比较，若不一致则向所述上位机发送校验错误信号；若一致则继续对所述第一累加散列值进行校验；

若文件大小值校验成功，则所述嵌入式设备基于已设定的数据块大小和所述采样间隔，按照所述采样间隔对所述数据块进行采样，得到嵌入式设备采样数据块；

所述嵌入式设备计算每个所述嵌入式设备采样数据块的散列值，并将所有散列值按字节累加，得到第二累加散列值；

所述嵌入式设备将所述第一累加散列值与所述第二累加散列值进行校验比较，若相同则向所述上位机发送校验成功信号，若不同则向所述上位机发送校验错误信号，其中，在对散列值进行累加过程中，将累加溢出部分直接丢弃。

2.根据权利要求1所述的校验方法，其特征在于，所述上位机采样数据块至少包括所述嵌入式设备文件中的第一个数据块、以及最后一个数据块的信息。

3.一种嵌入式设备文件的校验系统，该系统按照如权利要求1或2所述的方法进行校验，其特征在于，所述校验系统具备：

嵌入式设备：其接收文件校验值，对所述文件校验值进行校验判定，并将校验结果反馈至上位机，完成嵌入式设备文件的校验；

上位机：其设定将所述嵌入式设备文件划分成多个数据大小相等的数据块的大小和针对所述数据块的采样间隔，按照已定义的所述采样间隔，对所述嵌入式设备文件的所述数据块进行采样，得到上位机采样数据块，而后，计算每个所述上位机采样数据块的散列值，将所有散列值按字节累加，得到第一累加散列值，并基于此得到针对所述嵌入式设备文件的所述文件校验值，其中，

所述上位机，其还确定其中所述嵌入式设备文件的大小，得到第一文件大小值，并将所述第一文件大小值与所述第一累加散列值拼接，得到所述文件校验值；

所述嵌入式设备，其还确定其中所述嵌入式设备文件的大小，得到第二文件大小值，并将所述第一文件大小值与所述第二文件大小值进行比较，若不一致则向所述上位机发送校验错误信号，若一致则继续对所述第一累加散列值进行校验，其中，若文件大小值校验成功，则基于已设定的数据块大小和所述采样间隔，按照所述采样间隔对所述数据块进行采样，得到嵌入式设备采样数据块，计算每个所述嵌入式设备采样数据块的散列值，并将所有散列值按字节累加，得到第二累加散列值，从而所述第一累加散列值与所述第二累加散列值进行校验比较，若相同则向所述上位机发送校验成功信号，若不同则向所述上位机发送校验错误信号，其中，在对散列值进行累加过程中，将累加溢出部分直接丢弃。

4.根据权利要求3所述的校验系统，其特征在于，所述上位机采样数据至少包括所述嵌入式设备文件中的第一个数据块、以及最后一个数据块的信息。