[发明专利]一种嵌入式设备文件的校验方法及系统

说明书

本发明公开了一种嵌入式设备文件的校验方法，其用于校验上位机从嵌入式设备下载后的文件的完整性，该校验方法包括如下步骤：设定将嵌入式设备文件划分成多个数据大小相等的数据块的大小和针对数据块的采样间隔；上位机按照采样间隔，对嵌入式设备文件的数据块进行采样，得到上位机采样数据块；上位机计算每个上位机采样数据块的散列值，将所有散列值按字节累加，得到第一累加散列值，并基于此得到针对嵌入式设备文件的文件校验值；嵌入式设备接收文件校验值，对该校验值进行校验，并将结果反馈至上位机，完成嵌入式设备文件的校验功能。本发明减少了校验计算的时间，降低了嵌入式设备及CPU设备的负荷，最大限度地保证校验结果的正确性。

技术领域

本发明涉及嵌入式技术领域，具体地说，是涉及一种嵌入式设备文件的校验方法及系统。

背景技术

许多嵌入式设备在运行过程中都会记录运行日志和故障，方便用户对设备以及整个系统进行分析和检修，当利用相应工具将文件下载到上位机后，为了保证文件的完整性，通常要进行文件校验。

在现有技术中，文件校验方法一般是针对整个文件内容进行散列值的计算，以此作为文件校验值，但由于嵌入式设备资源有限，IO读写速度较慢，如果采用常用方法读取整个文件的内容来计算散列值，会存在以下不足：

由于需要读取整个文件的内容来计算其散列值，因此，比较占资源，也比较耗时，有时散列值计算时间甚至接近文件的传输时间。对于较大的文件(日志记录文件通常比较大，可能10MB)，在上位机中计算文件散列值也会耗费一定时间，在嵌入式设备中将更加耗时，且导致设备CPU持续高负荷。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种嵌入式设备文件的校验方法，其用于校验上位机从嵌入式设备下载后的文件的完整性，该校验方法包括如下步骤：采样参数设定步骤，设定将嵌入式设备文件划分成多个数据大小相等的数据块的大小和针对所述数据块的采样间隔；数据块采样步骤，所述上位机按照已定义的所述采样间隔，对所述嵌入式设备文件的所述数据块进行采样，得到上位机采样数据块；校验信息生成步骤，所述上位机计算每个所述上位机采样数据块的散列值，将所有散列值按字节累加，得到第一累加散列值，并基于此得到针对所述嵌入式设备文件的文件校验值；校验结果生成步骤，所述嵌入式设备接收所述文件校验值，对所述文件校验值进行校验判定，并将校验结果反馈至所述上位机，完成所述嵌入式设备文件的校验。

优选地，所述校验结果生成步骤，进一步包括，解析所述文件校验值，对获取到的第一文件大小值进行校验，输出当前校验结果；若校验成功，则所述嵌入式设备基于已设定的数据块大小和所述采样间隔，按照所述采样间隔对所述数据块进行采样，得到嵌入式设备采样数据块；所述嵌入式设备计算每个所述嵌入式设备采样数据块的散列值，并将所有散列值按字节累加，得到第二累加散列值；所述嵌入式设备将所述第一累加散列值与所述第二累加散列值进行校验比较，若相同则向所述上位机发送校验成功信号，若不同则向所述上位机发送校验错误信号。

优选地，在解析所述文件校验值，对获取到的所述第一文件大小值进行校验的步骤中，确定所述嵌入式设备中所述嵌入式设备文件的大小，得到第二文件大小值；将所述第一文件大小值与所述第二文件大小值进行比较，若不一致则向所述上位机发送所述校验错误信号；若一致则继续对所述第一累加散列值进行校验。

优选地，所述上位机采样数据块至少包括所述嵌入式设备文件中的第一个数据块、以及最后一个数据块的信息。

优选地，所述校验信息生成步骤中还包括，确定所述上位机中所述嵌入式设备文件的大小，得到所述第一文件大小值；将所述第一文件大小值与所述第一累加散列值拼接，得到所述文件校验值。

优选地，在对散列值进行累加过程中，将累加溢出部分直接丢弃。