[发明专利]对多个电声器件进行测试的装置和方法有效
申请号: | 201780090359.4 | 申请日: | 2017-04-12 |
公开(公告)号: | CN110720227B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | A·肯金;K·斯托达特;G·考恩;K·盖茨 | 申请(专利权)人: | 思睿逻辑国际半导体有限公司 |
主分类号: | H04R29/00 | 分类号: | H04R29/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 声学测试装置可以包括用于多个被测器件(DUT)的连接,以支持同时测试两个或更多个微型电声器件。声学测试装置可以允许以小于每个DUT一个参照麦克风的比率对多个DUT进行测试。因此,可以在无需通过额外的参照麦克风而增加大量成本的情况下加快测试DUT的速度。例如,单个参照麦克风可以用于测试通过声学测试腔耦合在一起的两个或四个DUT。 | ||
搜索关键词: | 电声 器件 进行 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种装置,包括:/n声学测试腔,所述声学测试腔包括封闭的空气体积;/n声学地耦合到所述声学测试腔的参照麦克风;/n声学地耦合到所述声学测试腔的至少两个声源;以及/n至少两个器件承座,所述至少两个器件承座被构造成各自接收微型电声器件,以将至少两个微型电声器件声学地耦合到所述声学测试腔,从而使用所述参照麦克风和所述至少两个声源同时测试所述至少两个微型电声器件。/n
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