[发明专利]对多个电声器件进行测试的装置和方法

权利要求书

1.一种声学测试装置，包括：

声学测试腔，所述声学测试腔包括封闭的空气体积；

声学地耦合到所述声学测试腔的参照麦克风；

声学地耦合到所述声学测试腔的至少两个声源；以及

至少两个器件承座，所述至少两个器件承座被构造成各自接收微型电声器件，

所述声学测试腔还包括平台，所述平台抵靠印刷电路板(PCB)密封以形成所述声学测试腔，并且所述至少两个器件承座位于穿过所述印刷电路板(PCB)的开口上方，以将至少两个微型电声器件声学地耦合到所述声学测试腔，从而使用所述参照麦克风和所述至少两个声源同时测试所述至少两个微型电声器件。

2.根据权利要求1所述的声学测试装置，其特征在于，所述参照麦克风在所述声学测试腔的近似中心处耦合到所述声学测试腔。

3.根据权利要求1所述的声学测试装置，其特征在于，所述至少两个声源和所述至少两个器件承座距离所述参照麦克风近似等距地定位。

4.根据权利要求1所述的声学测试装置，其特征在于，所述至少两个器件承座相对于所述参照麦克风对称地定位在所述声学测试腔周围。

5.根据权利要求1所述的声学测试装置，其特征在于，所述声学测试腔包括圆形形状，并且所述声学测试腔包括在所述圆形形状的中心处的用于所述参照麦克风的开口。

6.根据权利要求5所述的声学测试装置，其特征在于，所述声学测试腔包括被构造成耦合到所述至少两个声源的至少两个源开口，所述至少两个源开口被定位成距离所述圆形形状的中心近似相同的距离并且跨越所述圆形形状的中心相对彼此位于相反的侧部。

7.根据权利要求1所述的声学测试装置，其特征在于，所述声学测试腔包括耦合到中心开口的多个副形状，所述中心开口被构造成耦合到所述参照麦克风，并且所述多个副形状被构造成耦合到所述至少两个声源和所述至少两个器件承座中的至少一个。

8.根据权利要求7所述的声学测试装置，其特征在于，所述多个副形状被构造成将所述至少两个声源对称地耦合到所述声学测试腔。

9.根据权利要求7所述的声学测试装置，其特征在于，所述多个副形状包括花瓣状部分。

10.根据权利要求9所述的声学测试装置，其特征在于，所述多个副形状包括弯曲的花瓣状部分，所述至少两个声源和所述至少两个器件承座被耦合到所述弯曲的花瓣状部分中的一个，使得在所述至少两个声源和所述至少两个器件承座中的一个与所述至少两个声源和所述至少两个器件承座中的另一个之间没有直接的声学路径。

11.根据权利要求9所述的声学测试装置，其特征在于，所述多个副形状包括至少六个花瓣状部分，并且所述至少六个花瓣状部分中的每个耦合到至少四个器件承座和至少两个声源中的一个。

12.根据权利要求1所述的声学测试装置，其特征在于，所述至少两个器件承座被构造成接收微机电系统(MEMS)麦克风器件。

13.根据权利要求12所述的声学测试装置，其特征在于，所述至少两个器件承座被构造成提供到所述MEMS麦克风器件的电耦合。

14.一种使用如权利要求1至13中任一项所述的声学测试装置来测试电声器件的方法，包括：

将至少两个微型电声器件分别插设到所述声学测试装置的所述至少两个器件承座中的相应器件承座中，以将所述至少两个微型电声器件声学地耦合到所述声学测试腔；

启动所述至少两个声源，以在所述声学测试腔内产生声场；

测量所述参照麦克风响应于所述声场的参照输出；

同时测量所述至少两个微型电声器件响应于所述声场的输出；以及

将所述参照输出与所述至少两个微型电声器件的输出中的每个进行比较。