[发明专利]用于高空间分辨率地确定样品中的分离的、以激励光可激励以发射发光的分子的位置的方法

摘要

在一种用于高空间分辨率地确定在样品中在一个或多个空间方向(x，y)上的分离的分子(24)的位置的方法的情况下，其中，分子(24)能够以激励光激励以发射发光，使激励光以以下强度分布对准样品：所述强度分布具有零点(20)和在空间方向(x，y)中的每个上在两侧邻接零点(20)的强度上升区域。对于样品中的零点(20)的不同位置(A‑D)中的每个记录由分子(24)发射的发光；由对于零点(20)的不同位置(A‑D)记录的发光的强度推导出样品中的分子(24)的位置。在此，零点(20)布置在样品中的不超过n×3个不同位置(A‑D)处，以便由对于零点(20)的不同位置(A‑D)记录的发光的强度推导出在n个空间方向上的分子(24)的位置。

主权项

1.一种用于高空间分辨率地确定在样品(6)中在一个或多个空间方向上分离的分子(24)的位置的方法，其中，所述分子(24)能够以激励光(3)激励以发射发光(12)，其中，使所述激励光(3)以以下强度分布(19)对准所述样品(6)：所述强度分布具有零点(20)和强度上升区域(22)，所述强度上升区域在所述空间方向中的每个空间方向上在两侧邻接所述零点(20)，其中，对于在所述样品(6)中所述零点(20)的不同位置(A‑D)中的每个位置，记录由所述分子(24)发射的发光(12)，其中，由对于所述零点(20)的不同位置(A‑D)记录的发光(12)的强度(I_A‑I_D)推导出所述样品(6)中的所述分子(24)的位置；其特征在于，所述零点(20)布置在所述样品(6)中的不超过n×3个不同位置(A‑D)处，以便由所述发光(12)的对于所述零点(20)的不同位置(A‑D)记录的强度(I_A‑I_D)推导出在所述n个空间方向上所述分子(24)的位置。