[发明专利]用于使用光学相干断层扫描来检查眼科镜片的方法有效
| 申请号： | 201780042849.7 | 申请日： | 2017-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN109416297B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | T·托恩 | 申请（专利权）人： | 爱尔康公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 姜利芳;杨晓光 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述了一种用于使用光学相干断层扫描来检查眼科镜片、特别是接触镜片的方法。根据本发明的方法包括用样品光束照射包括所述眼科镜片的样品体积，所述样品光束是由1040nm至1080nm波长的、具有至少2mW且不超过5W的功率的光源提供。在实施根据本发明的方法时，检查眼科镜片，所述眼科镜片已经被制造成使得所述眼科镜片包括分别嵌入其前表面中和/或上和嵌入其后表面中和/或上和/或分布在由所述眼科镜片的前表面和后表面界定的整个块体材料中的散射中心。然后，可以分析和评估由来自包括所述眼科镜片的所述样品体积的反向散射光和从所述光源提供的参考光束的叠加产生的干涉图样。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 使用 光学 相干 断层 扫描 检查 眼科 镜片 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于使用光学相干断层扫描来检查眼科镜片、特别是接触镜片的方法，所述方法包括：用样品光束照射包括待检查的眼科镜片的限定样品体积，所述样品光束是由1040nm至1080nm波长的、具有至少2mW且不超过5W的功率的光源提供，所述眼科镜片已经被制造成使得所述眼科镜片包括分别嵌入其前表面中和/或上和嵌入其后表面中和/或上和/或分布在由所述眼科镜片的前表面和后表面界定的整个块体材料中的散射中心，检测与由来自包括所述待检查的眼科镜片的所述限定样品体积的反向散射光和从所述光源提供的参考光束的叠加产生的干涉图样对应的信号，分析所检测的信号并从与周围样品体积对应的信号中分割与所述眼科镜片对应的原始数据，从与所述检查的眼科镜片对应的经分割原始数据中去除所述眼科镜片和所述周围样品体积的折射效应，以便获得所述检查的眼科镜片的几何数据，以及将所述几何数据转换成表示所述检查的眼科镜片的CAD可读数据。
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