[发明专利]用于EUV投射光刻的投射光学单元有效

专利信息
申请号: 201780042774.2 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN109478020B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: M.施瓦布;H.恩基施;T.希克坦兹 申请(专利权)人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B17/06
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于EUV投射光刻的投射光学单元(7),具有用于以照明光(3)将物场(4)成像至像场(8)的多个反射镜(M1至M10)。反射镜中的至少一个反射镜(M1,M9,M10)实施为NI反射镜且反射镜中的至少一个反射镜(M2至M8)实施为GI反射镜。在垂直于入射平面(yz)的范围平面(xz)中的至少一个NI反射镜的反射镜尺寸Dx满足以下关系:4LLWx/IWPVmax<Dx。在入射平面(yz)中的至少一个GI反射镜的反射镜尺寸Dy满足以下关系:4LLWy/(IWPVmax cos(a))<Dy。在此处,LLWx及LLWy表示投射光学单元(7)在范围平面(xz)及在入射平面(yz)中的光展量,且IWPVmax表示在NI反射镜(M1,M9,M10)的反射表面上及在GI反射镜(M2至M8)的反射表面上的照明光(3)的最大入射角与最小入射角之间的最大差异。a表示在GI反射镜(M2至M8)的反射表面上的中心场点的主射线(16)的入射角。这产生了可优化的投射光学单元,特别是针对非常短的EUV照明光波长。
搜索关键词: 用于 euv 投射 光刻 光学 单元
【主权项】:
1.一种用于EUV投射光刻的投射光学单元(7),‑包含用于以照明光(3)将物场(4)成像至像场(8)的多个反射镜(M1至M10),‑其中该反射镜中的至少一个反射镜(M1,M9,M10)实施为NI反射镜并配置使得以中心场点的主射线(16)的最大入射角(AOI)撞击该NI反射镜(M1,M9,M10)的反射表面,该最大入射角小于45°,其中该主射线(16)入射于该反射表面的射线部分及该主射线(16)来自该反射表面的射线部分位于入射平面(yz)中,‑其中该至少一个NI反射镜(M1,M9,M10)在垂直于该入射平面(yz)的范围平面(xz)中的反射镜尺寸Dx满足以下关系:4LLWx/IWPVmax<Dx,其中,以下适用:‑LLWx:该投射光学单元(7)在该范围平面(xz)中的光展量;‑IWPVmax:分别于相同的位置且于该NI反射镜(M1,M9,M10)的整体反射表面上确定的该照明光(3)的最大入射角与最小入射角之间的最大差异。
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