[发明专利]用于干涉测量分析的SAR成像方法在审
| 申请号： | 201780037690.X | 申请日： | 2017-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN109313261A | 公开（公告）日： | 2019-02-05 |
| 发明（设计）人： | 迭戈·卡拉布里亚;法布里奇奥·因帕哥纳提罗 | 申请（专利权）人： | 泰雷兹阿莱尼亚宇航意大利单一股东有限责任公司 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90;G01S7/40 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于干涉分析的SAR成像方法(40)，包括：接收与通过一个或多个合成孔径雷达执行的对地球表面的同一区域的两次或更多次SAR采集相关的原始SAR数据；以及处理所述原始SAR数据以生成SAR图像。所述方法的其特征在于，对于每次SAR采集，基于不同的两组处理参数处理与所述SAR采集相关的相应原始SAR数据，所述不同的两组处理参数包括：第一组，所述第一组对于所有SAR采集而言都相同，并且包括基于与所有SAR采集相关的物理多普勒参数计算的聚焦多普勒参数；以及相应的第二组，所述相应的第二组包括与所述SAR采集相关并且基于与所述SAR采集相关的相应物理多普勒参数来计算的相应的辐射度均衡多普勒参数。具体地，处理包括：基于所述聚焦多普勒参数聚焦与所有SAR采集相关的原始SAR数据；以及，对于每次SAR采集，基于相应的辐射度均衡多普勒参数将相应的辐射度均衡应用于相应的SAR数据，以在不降低方位分辨率并且不引入辐射度失真的情况下，补偿在用于执行SAR采集的所述合成孔径雷达的指向方面的可能差异。 | ||
| 搜索关键词： | 采集 多普勒 辐射度 合成孔径雷达 处理参数 聚焦 均衡 两组 方位分辨率 参数计算 地球表面 干涉测量 同一区域 失真 指向 分析 干涉 引入 应用 | ||
【主权项】：
1.一种用于干涉分析的SAR成像方法(40)，包括：接收与通过一个或多个合成孔径雷达执行的对地球表面的同一区域的两次或更多次SAR采集相关的原始SAR数据；以及处理所述原始SAR数据以生成SAR图像；其特征在于，对于每次SAR采集，基于不同的两组处理参数处理与所述SAR采集相关的相应原始SAR数据，所述不同的两组处理参数包括：第一组，所述第一组对于所有SAR采集而言都相同，并且包括基于与所有SAR采集相关的物理多普勒参数计算的聚焦多普勒参数；以及相应的第二组，所述相应的第二组包括与所述SAR采集相关并且基于与所述SAR采集相关的相应物理多普勒参数来计算的相应的辐射度均衡多普勒参数；并且其中处理包括：基于所述聚焦多普勒参数聚焦与所有SAR采集相关的原始SAR数据；以及，对于每次SAR采集，基于相应的辐射度均衡多普勒参数将相应的辐射度均衡应用于相应的SAR数据，以在不降低方位分辨率并且不引入辐射度失真的情况下，补偿在用于执行SAR采集的所述合成孔径雷达的指向方面的可能差异。
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