[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器

摘要

公开了一种用于确定至少一个对象的位置，特别用于3D感测概念的检测器。该检测器包括：纵向光学传感器(110)，用于通过从对象行进到检测器的光束确定对象的纵向位置；以及横向光学传感器(112)，其可设计为成像装置或位置敏感检测器。纵向光学传感器(110)具有至少两个PN结构或PIN结构(138，140)。PN结构或PIN结构中的每一个结构位于两个电极层(144)之间，从而形成各自具有纵向传感器区域(148)的光电二极管(146)。给定相同的照射总功率，来自光电二极管(146)的纵向传感器信号取决于纵向传感器区域(148)中光束的束横截面。作为替代，并非横向光学传感器(112)，纵向光学传感器(110)的光电二极管(146)可以适于各自作为一维位置敏感检测器来操作，用于分别确定横向x坐标和横向y坐标。

主权项

1.一种用于确定至少一个对象(156)的位置的检测器(114)，所述检测器(114)包括：‑至少一个纵向光学传感器(110)，用于确定从所述对象(156)行进到所述检测器(114)的至少一个光束(142)的纵向位置，所述纵向光学传感器(110)具有层设置(116)，其中所述纵向光学传感器(110)包括至少两个p型半导体层(124)、至少两个n型半导体层(130)和至少三个独立的电极层(144)，其中所述p型半导体层(124)和所述n型半导体层(130)形成至少两个独立的PN结构，其中所述PN结构中的每个PN结构位于所述电极层(144)中的至少两个电极层之间，从而形成至少两个光电二极管(146)，其中，所述两个光电二极管(146)中的每个光电二极管具有至少一个纵向传感器区域(148)，其中所述纵向光学传感器(110)被设计为以取决于由所述光束(142)对所述纵向传感器区域(148)的照射的方式生成至少两个纵向传感器信号，其中给定相同的所述照射的总功率，所述纵向传感器信号取决于所述纵向传感器区域(148)中所述光束(142)的束横截面；以及‑至少一个评估装置(154)，其中所述评估装置(154)被配置为通过评估所述纵向传感器信号来确定所述对象(156)的至少一个纵向坐标。