[发明专利]平面射束、光探测和测距系统有效
申请号: | 201780022918.8 | 申请日: | 2017-03-02 |
公开(公告)号: | CN109074073B | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | S·贝姆科 | 申请(专利权)人: | UATC有限责任公司 |
主分类号: | G05D1/02 | 分类号: | G05D1/02;G01S17/931;B60W30/10 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李隆涛 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种平面射束、光探测和测距(PLADAR)系统可以包括发射平面射束的激光扫描仪以及探测来自平面射束的反射光的探测器阵列。 | ||
搜索关键词: | 平面 探测 测距 系统 | ||
【主权项】:
1.一种平面射束、光探测和测距(PLADAR)系统,所述PLADAR系统包括:激光扫描仪,其发射平面射束;以及探测器阵列,用于探测来自平面射束的反射光。
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