[发明专利]用于光学发射检测的装置和方法有效
| 申请号： | 201780014198.0 | 申请日： | 2017-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN109196332B | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 王伟海;李宏迪;R·A·拉米瑞-加拉米罗;张玉烜;H·巴格黑 | 申请（专利权）人： | 得克萨斯大学体系董事会 |
| 主分类号： | G01N21/62 | 分类号： | G01N21/62;G01T1/164;G01T1/20;G01T1/202;G01T1/29;H01L27/146;H01L31/09 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 高文静 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于光发射检测的装置和方法包括闪烁块角靠近传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 发射 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于光发射检测的装置，所述装置包括：包括闪烁晶体的块，其中：所述块包括第一端和与第一端平行的第二端；所述块包括在第一端和第二端之间延伸的多个侧面；以及所述块的第一端包括第一角、第二角、第三角和第四角；耦合到所述块的所述多个侧面和所述块的第一端的反射膜；耦合到所述块靠近第一角的第一光传感器；耦合到所述块靠近第二角的第二光传感器；耦合到所述块靠近第三角的第三光传感器；以及耦合到所述块靠近第四角的第四光传感器。
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