[发明专利]用于光学发射检测的装置和方法

权利要求书

1.一种用于光发射检测的装置，所述装置包括：

包括闪烁晶体的块，其中：

所述块包括第一端和与第一端平行的第二端；

所述块包括在第一端和第二端之间延伸的多个侧面；以及

所述块的第一端包括第一角、第二角、第三角和第四角；

耦合到所述块的所述多个侧面和所述块的第一端的反射膜；

耦合到所述块靠近第一角的第一光传感器；

耦合到所述块靠近第二角的第二光传感器；

耦合到所述块靠近第三角的第三光传感器；以及

耦合到所述块靠近第四角的第四光传感器，其中耦合到所述块的第一端的反射膜包括靠近第一角的第一开口、靠近第二角的第二开口、靠近第三角的第三开口以及靠近第四角的第四开口。

2.如权利要求1所述的装置，其中所述块还包括设置在闪烁晶体之间的反射膜。

3.如权利要求2所述的装置，其中设置在闪烁晶体之间的反射膜从所述块的第二端向所述块的第一端延伸。

4.如权利要求2所述的装置，其中设置在闪烁晶体之间的反射膜包括具有不同长度的多个部分。

5.如权利要求2所述的装置，其中第一、第二、第三和第四传感器被配置为：

检测由耦合到所述块的所述多个侧面和所述块的第一端的反射膜反射的光；以及

检测由设置在闪烁晶体之间的反射膜所反射的光。

6.如权利要求1所述的装置，其中耦合到所述块的所述多个侧面的反射膜覆盖所述块的所述多个侧面。

7.如权利要求1所述的装置，其中第一传感器在第一开口处耦合到所述块，第二传感器在第二开口处耦合到所述块，第三传感器在第三开口处耦合到所述块，并且第四传感器在第四开口处耦合到所述块。

8.如权利要求1所述的装置，其中所述闪烁晶体具有4-20微米R_a的表面光洁度。

9.如权利要求1所述的装置，其中：

所述块的第一端包括表面区域；以及

第一传感器、第二传感器、第三传感器和第四传感器覆盖小于第一端的表面区域的百分之二十。

10.如权利要求9所述的装置，其中第一传感器、第二传感器、第三传感器和第四传感器覆盖小于第一端的表面区域的百分之十。

11.如权利要求1所述的装置，其中：

所述块的第二端包括第五角、第六角、第七角和第八角；以及

所述装置还包括：耦合到所述块靠近第五角的第五光传感器，耦合到所述块靠近第六角的第六光传感器，耦合到所述块靠近第七角的第七光传感器以及耦合到所述块靠近第八角的第八光传感器。

12.如权利要求11所述的装置，其中：

所述块还包括设置在闪烁晶体之间的反射膜；以及

设置在闪烁晶体之间的反射膜不延伸到所述块的第一端或第二端。

13.如权利要求12所述的装置，其中设置在闪烁晶体之间的反射膜包括具有不同长度的多个部分。

14.如权利要求12所述的装置，其中设置在闪烁晶体之间的反射膜包括具有相等长度的多个部分。

15.如权利要求11所述的装置，其中耦合到所述块的所述多个侧面的反射膜覆盖所述块的所述多个侧面。

16.如权利要求1所述的装置，其中第一传感器、第二传感器、第三传感器和第四传感器是硅光电倍增器。

17.如权利要求1所述的装置，其中所述装置是正电子发射断层扫描检测器中的部件。