[外观设计]功率半导体器件间隔脉冲IV测试法验证装置有效
| 申请号： | 201730110571.5 | 申请日： | 2017-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN304419686S | 公开（公告）日： | 2017-12-22 |
| 发明（设计）人： | 刘冲;李洁;张珊;徐迎春;阚劲松;王酣 | 申请（专利权）人： | 中国电子技术标准化研究院 |
| 主分类号： | 10-05 | 分类号： | 10-05 |
| 代理公司： | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙)11368 | 代理人： | 孙国栋 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1．本外观设计产品的名称功率半导体器件间隔脉冲IV测试法验证装置；2．本外观设计产品的用途本外观设计产品用于功率二极管、功率三极管、功率MOSFET器件、功率IGBT模块等功率半导体器件检测脉冲IV测试方法的测试，测试曲线包括器件输入、输入特性曲线；3．本外观设计产品的设计要点在于该产品的整体形状；4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片立体图；5．省略视图其它视图无设计要点，故省略。 | ||
| 搜索关键词： | 功率 半导体器件 间隔 脉冲 iv 测试 验证 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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