[实用新型]集成电路测试系统有效

专利信息
申请号: 201721921792.1 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN207799022U 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 叶剑文 申请(专利权)人: 杭州友旺电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 赵囡囡
地址: 310012 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种集成电路测试系统。其中,该集成电路测试系统包括:测试系统主机;核心控制模块,通过数据连接控制器与所述测试系统主机相连接;程控电压电流源,通过地址数据总线与所述核心控制模块相连接,用于输出电流;用户测试卡,与所述程控电压电流源相连接,用于存储测试参数和测试条件;待测器件,连接在所述用户测试卡的输出端,并且与所述核心控制模块相连接,其中,所述测试系统主机通过所述核心控制模块按照所述用户测试卡中的所述测试参数和所述测试条件对所述待测器件执行自动测试。本实用新型解决了现有的集成电路测试系统的功能单一的技术问题。
搜索关键词: 集成电路测试系统 核心控制模块 测试系统主机 用户测试 本实用新型 测试条件 程控电压 待测器件 电流源 地址数据总线 测试参数 存储测试 功能单一 输出电流 数据连接 自动测试 控制器 输出端
【主权项】:
1.一种集成电路测试系统,其特征在于,包括:测试系统主机;核心控制模块,通过数据连接控制器与所述测试系统主机相连接;程控电压电流源,通过地址数据总线与所述核心控制模块相连接,用于输出电流;用户测试卡,与所述程控电压电流源相连接,用于存储测试参数和测试条件;待测器件,连接在所述用户测试卡的输出端,并且与所述核心控制模块相连接,其中,所述测试系统主机通过所述核心控制模块按照所述用户测试卡中的所述测试参数和所述测试条件对所述待测器件执行自动测试。
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