[实用新型]集成电路测试系统有效
| 申请号： | 201721921792.1 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN207799022U | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 叶剑文 | 申请（专利权）人： | 杭州友旺电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 赵囡囡 |
| 地址： | 310012 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集成电路测试系统 核心控制模块 测试系统主机 用户测试 本实用新型 测试条件 程控电压 待测器件 电流源 地址数据总线 测试参数 存储测试 功能单一 输出电流 数据连接 自动测试 控制器 输出端 | ||
1.一种集成电路测试系统，其特征在于，包括：
测试系统主机；
核心控制模块，通过数据连接控制器与所述测试系统主机相连接；
程控电压电流源，通过地址数据总线与所述核心控制模块相连接，用于输出电流；
用户测试卡，与所述程控电压电流源相连接，用于存储测试参数和测试条件；
待测器件，连接在所述用户测试卡的输出端，并且与所述核心控制模块相连接，
其中，所述测试系统主机通过所述核心控制模块按照所述用户测试卡中的所述测试参数和所述测试条件对所述待测器件执行自动测试。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述集成电路测试系统包括承载设备，连接在所述用户测试卡的输出端，并且与所述核心控制模块相连接，用于承载所述待测器件，以便对所述待测器件执行自动测试。
3.根据权利要求2所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述承载设备包括分选机或者探针台。
4.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述集成电路测试系统包括信号源，所述信号源连接在所述用户测试卡的输入端，并且与所述测试系统主机相连接，用于控制所述信号源输出不同频率的信号对所述待测器件进行测试。
5.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述集成电路测试系统包括电子测量设备，连接在所述用户测试卡的输出端，并且与所述测试系统主机相连，用于采集对所述待测器件进行测试时得到的参数。
6.根据权利要求5所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述电子测量设备至少包括以下至少之一：
示波器、万用表和功率分析仪。
7.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述集成电路测试系统还包括：
电源及报警模块，通过所述地址数据总线与所述程控电压电流源连接，用于向所述程控电压电流源提供电流。
8.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述集成电路测试系统还包括：
任意波形发生器，通过所述地址数据总线连接在所述核心控制模块和输出接口模块之间，其中，所述任意波形发生器由电源及报警模块供电，所述输出接口模块连接所述用户测试卡。
9.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述程控电压电流源为多个。
10.根据权利要求5所述的集成电路测试系统，其特征在于，所述电子测量设备通过通用接口总线GPIB与所述测试系统主机相连接。
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