[实用新型]集成电路测试系统

说明书

本实用新型公开了一种集成电路测试系统。其中，该集成电路测试系统包括：测试系统主机；核心控制模块，通过数据连接控制器与所述测试系统主机相连接；程控电压电流源，通过地址数据总线与所述核心控制模块相连接，用于输出电流；用户测试卡，与所述程控电压电流源相连接，用于存储测试参数和测试条件；待测器件，连接在所述用户测试卡的输出端，并且与所述核心控制模块相连接，其中，所述测试系统主机通过所述核心控制模块按照所述用户测试卡中的所述测试参数和所述测试条件对所述待测器件执行自动测试。本实用新型解决了现有的集成电路测试系统的功能单一的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及测试领域，具体而言，涉及一种集成电路测试系统。

背景技术

随着集成电路功能的增加，其应用也越来越广泛，对集成电路的测试需求和要求也越来越多。其必须通过专门的测试机来整合相关的测试资源，目前，国外的测试机功能齐全，可以针对各种不同功能的产品进行测试，但是价格昂贵。而国内的测试机在功能单一，性能不尽人意。

而好多的芯片测试和设计公司的测试机仪器，不能进行自动测试，这些仪器都闲置。而公司如果在购买新设备必须投入大量的资金，与节约测试成本相左。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种集成电路测试系统，以至少解决现有的集成电路测试系统的功能单一的技术问题。

根据本实用新型实施例的一个方面，提供了一种集成电路测试系统，包括：测试系统主机；核心控制模块，通过数字连接控制器与所述测试系统主机相连接；程控电压电流源，通过地址数据总线与所述核心控制模块相连接，用于输出电流；用户测试卡，与所述程控电压电流源相连接，用于存储测试参数和测试条件；待测器件，连接在所述用户测试卡的输出端，并且与所述核心控制模块相连接，其中，所述测试系统主机通过所述核心控制模块按照所述用户测试卡中的所述测试参数和所述测试条件对所述待测器件执行自动测试。

可选地，所述集成电路测试系统包括承载设备，连接在所述用户测试卡的输出端，并且与所述核心控制模块相连接，用于承载所述待测器件，以便对所述待测器件执行自动测试。

可选地，所述承载设备包括分选机或者探针台。

可选地，所述集成电路测试系统包括信号源，所述信号源连接在所述用户测试卡的输入端，并且与所述测试系统主机相连接，用于控制所述信号源输出不同频率的信号对所述待测器件进行测试。

可选地，所述集成电路测试系统包括电子测量设备，连接在所述用户测试卡的输出端，并且与所述测试系统主机相连，用于采集对所述待测器件进行测试时得到的参数。

可选地，所述电子测量设备至少包括以下至少之一：示波器、万用表和功率分析仪。

可选地，所述集成电路测试系统还包括：电源及报警模块，通过所述地址数据总线与所述程控电压电流源连接，用于向所述程控电压电流源提供电流。

可选地，所述集成电路测试系统还包括：任意波形发生器，通过所述地址数据总线连接在所述核心控制模块和所述输出接口模块之间，其中，所述任意波形发生器由电源及报警模块供电。

可选地，所述程控电压电流源为多个。

可选地，所述电子测量设备通过通用接口总线GPIB与所述测试系统主机相连接。

在本实用新型实施例中，将待测器件与用户测试卡相连接，用于测试卡包括对待测器件进行测试的条件和测试参数，通过核心控制模块和测试系统主机按照用户测试卡中的测试条件和测试参数对待测器件执行自动测试，调整用户测试卡中的测试条件和测试参数就可以对不同的待测器件进行不同功能的测试，从而解决了现有的集成电路的测试系统功能比较单一的技术问题。

附图说明