[实用新型]中央处理器测试机有效
申请号: | 201721678889.4 | 申请日: | 2017-12-06 |
公开(公告)号: | CN207601201U | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 梁红斌;郑荣;席洪旺 | 申请(专利权)人: | 英特尔产品(成都)有限公司;英特尔公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 杨胜军 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型提供一种中央处理器测试机,至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、和不间断电源,至少所述主机系统和所述不间断电源被封装在壳体中,在所述壳体上设置有可打开的门,其特征在于,所述主机系统和所述不间断电源并排地设置在所述壳体中,所述不间断电源位于所述主机系统与所述门之间,所述门上设置有多个通风孔。根据本实用新型可以显著提高中央处理器测试机的测试效率,并且明显减少中央处理器测试机的运行维护成本。 | ||
搜索关键词: | 中央处理器 不间断电源 主机系统 测试机 壳体 本实用新型 抓取 操作部位 测试部位 测试效率 运行维护 可打开 通风孔 封装 转运 测试 | ||
【主权项】:
1.一种中央处理器测试机(1),至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统(7)、和不间断电源(9),至少所述主机系统(7)和所述不间断电源(9)被封装在壳体(3)中,在所述壳体(3)上设置有可打开的门(5),其特征在于,所述主机系统(7)和所述不间断电源(9)并排地设置在所述壳体(3)中,所述不间断电源(9)位于所述主机系统(7)与所述门(5)之间,所述门(5)上设置有多个通风孔(13)。
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