[实用新型]中央处理器测试机

说明书

本实用新型提供一种中央处理器测试机，至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、和不间断电源，至少所述主机系统和所述不间断电源被封装在壳体中，在所述壳体上设置有可打开的门，其特征在于，所述主机系统和所述不间断电源并排地设置在所述壳体中，所述不间断电源位于所述主机系统与所述门之间，所述门上设置有多个通风孔。根据本实用新型可以显著提高中央处理器测试机的测试效率，并且明显减少中央处理器测试机的运行维护成本。

技术领域

本实用新型涉及对中央处理器(CPU)的测试，尤其涉及一种中央处理器测试机。

背景技术

在中央处理器制造过程中，需要在中央处理器测试机上对每个单独的中央处理器进行测试。中央处理器测试机通常包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、不间断电源、电路板、以及传导气体的导管，这些组件中的至少一部分被封装在壳体中，壳体上设置有可打开的门。通过打开门，操作人员可以接近位于壳体内部的组件，以进行维护和更换。在中央处理器测试机运行期间，这些组件尤其是主机系统和不间断电源会产生大量的热量，但是由于壳体处于密闭状态且内部自由空间非常狭窄，壳体内部气流不流畅，导致壳体内部总是处于90至100℃高温。不间断电源设计的正常工作温度通常是25±3℃，高温会使得不间断电源很快就没有电了，不能起任何作用。主机系统在这种高温下也频繁出现死机现象，电路板上的电容和二极管等元器件在这种高温下也频繁出现故障。这都将导致中央处理器测试机需要停机维修。因而，现有的中央处理器测试机需要频繁停机维护、更换各种组件或元器件，这不仅显著降低了中央处理器测试机的测试效率，而且显著增大了中央处理器测试机的运行维护成本。

因此，需要对现有技术的中央处理器测试机进行改进。

实用新型内容

本实用新型的目的就是要提出一种改进的中央处理器测试机，这种中央处理器测试机通过降低壳体密闭空间内的温度，能够避免频繁停机维护、更换各种组件或元器件，从而显著提高中央处理器测试机的测试效率，并且明显减少中央处理器测试机的运行维护成本。

根据本实用新型，提供一种中央处理器测试机，至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、和不间断电源，至少所述主机系统和所述不间断电源被封装在壳体中，在所述壳体上设置有可打开的门，其特征在于，所述主机系统和所述不间断电源并排地设置在所述壳体中，所述不间断电源位于所述主机系统与所述门之间，所述门上设置有多个通风孔。

优选地，在所述门的后侧表面上设置有过滤膜。

优选地，在所述门与所述不间断电源之间的空间中设置有至少一个风扇。

优选地，所述风扇是扁平形风扇。

优选地，所述风扇被固定在支撑板上，所述支撑板上安装所述风扇的位置处形成有透气部。

优选地，所述透气部是由多个螺旋扇形孔形成的圆形部。

优选地，所述支撑板被安装在所述壳体的框架上。

优选地，在所述支撑板的透气部上设置另外一层过滤膜。

根据本实用新型，通过将所述不间断电源设置成靠近所述门、并且在所述门上设置有多个通风孔，壳体外侧的冷空气可以通过通风孔进入壳体中，以降低壳体内部环境的温度，避免中央处理器测试机频繁停机维护、更换各种组件或元器件，从而显著提高中央处理器测试机的测试效率，并且明显减少中央处理器测试机的运行维护成本。

附图说明

图1是根据本实用新型的中央处理器测试机的简化示意图；

图2是图1中被简化显示的中央处理器测试机的主视图；