[实用新型]一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统有效
| 申请号： | 201721547557.2 | 申请日： | 2017-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN207488215U | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 李春方;马鑫;贾静波 | 申请（专利权）人： | 苏州柯仕达电子材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及防漏料系统领域，特别涉及一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其技术方案要点是：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，包括断路器、报警器和多个控制触片；控制触片包括第一触片和第二触片，多个所述第一触片设置于样品托架上，并位于样品托架和样品压环相对的一侧；多个所述第二触片均匀分布于样品压环上，与所述第一触片相对的一侧；所述第二触片和第一触片能够接触，第一触片和第二触片接触不良能够触发断路器和报警器；所述断路器能够断开卤素测试仪的电源。其特点是能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。 | ||
| 搜索关键词： | 触片 防漏料 光谱分析 样品托架 样品压环 断路器 测试 报警器 控制触片 技术方案要点 本实用新型 触片接触 系统领域 触发 断开 漏料 电源 响应 配合 | ||
【主权项】：
一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特征在于：包括断路器（7）、报警器（8）和多个控制触片；控制触片包括第一触片（5）和第二触片（6），多个所述第一触片（5）设置于样品托架（3）上，并位于样品托架（3）和样品压环（4）相对的一侧；多个所述第二触片（6）均匀分布于样品压环（4）上，与所述第一触片（5）相对的一侧；所述第二触片（6）和第一触片（5）能够接触，第一触片（5）和第二触片（6）接触不良能够触发断路器（7）和报警器（8）；所述断路器（7）能够断开卤素测试仪的电源。
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