[实用新型]一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统

说明书

本实用新型涉及防漏料系统领域，特别涉及一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其技术方案要点是：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，包括断路器、报警器和多个控制触片；控制触片包括第一触片和第二触片，多个所述第一触片设置于样品托架上，并位于样品托架和样品压环相对的一侧；多个所述第二触片均匀分布于样品压环上，与所述第一触片相对的一侧；所述第二触片和第一触片能够接触，第一触片和第二触片接触不良能够触发断路器和报警器；所述断路器能够断开卤素测试仪的电源。其特点是能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。

技术领域

本实用新型涉及防漏料系统领域，特别涉及一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统。

背景技术

氟(F)、氯(Cl)、溴(Br)、碘(I)、砹(At)，简称卤素。有机卤化合物本身是有毒的，在人体中潜伏可致癌，且其生物降解率很低，致使在生态系统中产生积累，并且一些挥发性的有机卤素化合物对臭氧层有极大的破坏作用，对环境和人类健康造成严重影响。因此需要对产品的卤素进行测试，以实现无卤化。卤素的测试方法很多，在论文《电子分色片中卤素比的X光荧光光谱测定》中提供了一种用X光荧光光谱测试卤素的方法。

针对基于X荧光光谱分析的卤素测试仪，我国现有如下专利:

专利授权公告号：CN203929682U，公开了一种RoHS专用X荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品移动测试平台、内置高清晰度摄像头，信号探测装置中设置有与信号处理装置连接的探测器，信号处理装置与计算机连接，激发光源装置与计算机控制连接，激发光源装置中设置有X射线发生器，探测器位于X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器，探测器为SDD电制冷探测器。本实用新型可对各类样品中的RoHS指令中有害元素(Pb，Cd，Hg，Br，Cr)进行精准测试及无卤测试。

该专利的样品托架和样品压环可更换，却无法保证样品托架和样品压环之间紧密配合，若存在空隙无法及时察觉，在测试过程中，样品粉尘或碎屑容易掉入仪器测量室内，污染光源装置，影响测量精度，甚至引发故障。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特点是能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，包括断路器、报警器和多个控制触片；控制触片包括第一触片和第二触片，多个所述第一触片设置于样品托架上，并位于样品托架和样品压环相对的一侧；多个所述第二触片均匀分布于样品压环上，与所述第一触片相对的一侧；所述第二触片和第一触片能够接触，第一触片和第二触片接触不良能够触发断路器和报警器；所述断路器能够断开卤素测试仪的电源。

通过上述技术方案，当样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时，缝隙处的第一触片和第二触片的接触不良，能够触发断路器和报警器，及时响应，发出报警信号并切断卤素测试仪的电源。

优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片的输入端通过上拉电阻与电源连接，所述第二触片接地，所述第一触片的输出端与所述PLC控制器的输入端连接。

通过上述技术方案，当第一触片和第二触片接触良好时，第一触片的输出端向PLC控制器输入低电平信号；当第一触片和第二触片接触不良时，第一触片的输出端向PLC控制器输入高电平信号。

优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片通过或门与PLC控制器连接。

通过上述技术方案，当其中任意第一触片与第二触片之间接触不良时，即可通过或门向PLC控制器发出高电平信号。