[实用新型]一种封装芯片设备及高度检测装置有效

专利信息
申请号: 201721501526.3 申请日: 2017-11-10
公开(公告)号: CN207600428U 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 刘彦;张秋喜;何思博;李志威 申请(专利权)人: 东信和平科技股份有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;B07C5/12
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 俞梁清
地址: 519060 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种封装芯片设备,包括冷压站和安装在冷压站上的冷压头,所述冷压站安装在一升降机构上,所述冷压头下方设置有可输送PVC卡体的水平送料机构,冷压头可下压并接触芯片上表面,还包括用于检测芯片偏离PVC卡体基准表面高度的高度检测装置。另外,本实用新型还公开一种高度检测装置。本封装芯片设备新增高度检测装置,高度检测装置将芯片偏离PVC卡体基准表面的高度值转化为固定块相对参考接触件的位移高度,并借助位移感应装置检测出,通过数字信号的对比判断出封装后的芯片高度是否合格,产品是否合格,测量精度高。
搜索关键词: 高度检测装置 冷压 封装芯片 本实用新型 基准表面 偏离 芯片 水平送料机构 位移感应装置 测量精度高 芯片上表面 检测芯片 设备新增 升降机构 数字信号 固定块 接触件 下压 封装 参考 检测 转化
【主权项】:
1.一种封装芯片设备,包括冷压站和安装在冷压站上的冷压头,所述冷压站安装在一升降机构上,所述冷压头下方设置有可输送PVC卡体的水平送料机构,冷压头可下压并接触芯片上表面,其特征在于:还包括用于检测芯片偏离PVC卡体基准表面高度的高度检测装置。
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