[实用新型]一种用于测量X‑Ray钻孔机的钻孔精度的治具有效

专利信息
申请号: 201721274567.3 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN207197407U 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 黄铭宏 申请(专利权)人: 定颖电子(昆山)有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B21/00;G01B11/14
代理公司: 苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙)32312 代理人: 周雅卿
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种用于测量X‑Ray钻孔机的钻孔精度的治具,包括基板,且基板的覆铜面经蚀刻形成多个靶标,多个靶标分成两组,且分别为第一组和第二组,第一组和第二组的靶标在x轴方向和y轴方向皆等距离间隔排布形成靶标矩阵,第一组和第二组的相邻两靶标的靶心之间在x轴和y轴方向的距离皆为25mm;靶标包括蚀刻后形成的内铜环、外铜环以及位于内铜环的内侧的圆形的透光区,内铜环和外铜环之间具有连接铜条。本实用新型本治具的表面经蚀刻形成多个均匀且间隔设置的靶标,经3D测量设备校准精度后,能准确检测X‑Ray钻孔机的钻孔精度,且由于靶标的靶心间距设置合理,能实现对不同规格的PCB的钻孔精度的检测,还可实现对同一PCB不同位置的钻孔精度的测量。
搜索关键词: 一种 用于 测量 ray 钻孔机 钻孔 精度
【主权项】:
一种用于测量X‑Ray钻孔机的钻孔精度的治具,其特征在于:所述治具包括基板(1),且所述治具为平板状,所述基板为单面覆铜板,且所述基板的覆铜面经蚀刻形成多个靶标(2),多个所述靶标分成两组,且分别为第一组(3)和第二组(4),所述第一组和所述第二组的靶标在x轴方向和y轴方向皆等距离间隔排布形成靶标矩阵,第一组的相邻两靶标的靶心之间在x轴方向和y轴方向的距离(d11、d12)皆为25mm,第二组的相邻两靶标的靶心之间在x轴方向和y轴方向的距离(d21、d22)也皆为25mm;第一组和第二组的靶标的靶心之间的最小距离(d3)为300mm;所述第一组和所述第二组的靶标皆在x轴方向具有7个,且在y轴方向具有21个;所述靶标(2)包括主要由蚀刻后形成的内铜环(21)、外铜环(22)以及位于所述内铜环的内侧的圆形的透光区(24)组成,所述内铜环和所述外铜环之间具有连接铜条(23),所述连接铜条具有4条,且在x轴方向和所述y轴方向上连接内铜环和外铜环;所述连接铜条的宽度(w1)为20mil。
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