[实用新型]一种三价铬镀层厚度的测试装置有效
申请号: | 201720844890.3 | 申请日: | 2017-07-12 |
公开(公告)号: | CN207132854U | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 闫永辉;陈飚;陈浩 | 申请(专利权)人: | 安美特(中国)化学有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B7/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 511356 广东省广州市广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种三价铬镀层厚度的测试装置,该三价铬镀层厚度的测试装置包括测试装置主体,所述测试装置主体包括,底座平台,扫描仪器,支架,处理器,标准厚度片;还包括电解槽,所述电解槽内盛放有电解去除三价铬镀层的电解液。本实用新型的有益效果是通过设置的扫描仪器对三价铬待测样品和设置的标准厚度片进行扫描,并将扫描信号传送给设置的处理器,处理器的处理芯片将扫描信号转换成高度信息,并将计算后的高度差显示在处理器的显示屏上,此高度差即为三价铬镀层的厚度,进而改变了以往测试三价铬镀层厚度需先测试三价铬镀层密度的方式,从而简化了对三价铬镀层的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 三价铬 镀层 厚度 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种三价铬镀层厚度的测试装置,其特征在于,包括:测试装置主体(1),所述测试装置主体(1)包括,用于放置待测试的三价铬样品的底座平台(2),用于对三价铬样品扫描的扫描仪器(3),与所述扫描仪器(3)固定连接的支架(4),通过导线与所述扫描仪器(3)连接的处理器(5),用于测试对照使用的标准厚度片(6);还包括电解槽(7),所述电解槽(7)内盛放有电解去除三价铬镀层的电解液。
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