[实用新型]一种光电耦合器的性能测试电路及装置有效
| 申请号： | 201720833488.5 | 申请日： | 2017-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN207007962U | 公开（公告）日： | 2018-02-13 |
| 发明（设计）人： | 范立荣;徐经碧;许纹倚;黄滔;丘永青;于华平 | 申请（专利权）人： | TCL空调器(中山)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)44268 | 代理人： | 王永文,刘文求 |
| 地址： | 528427 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光电耦合器的性能测试电路及装置，所述光电耦合器的性能测试电路包括电源模块、信号发生模块、信号处理模块、分档切换模块以及与待测光耦连接的光耦测试卡座；由电源模块根据当前待测光耦的输出速度输出对应的供电电压至信号发生模块，并由信号发生模块产生PWM信号输出至信号处理模块，由信号处理模块对所述PWM信号进行幅值变换及放大限流处理后输出至光耦测试卡座的输入端，所述光耦测试卡座的输出端连接分档切换模块，由分档切换模块根据当前待测光耦的参数切换测试档位，并输出测试结果。能对不同规格的光耦进行性能测试，电路简单，成本低廉，极大降低了光耦性能测试的成本，利于光耦测试的推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 耦合器 性能 测试 电路 装置 | ||
【主权项】：
一种光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，包括电源模块、信号发生模块、信号处理模块、分档切换模块以及与待测光耦连接的光耦测试卡座；由电源模块根据当前待测光耦的输出速度输出对应的供电电压至信号发生模块，并由信号发生模块产生PWM信号输出至信号处理模块，由信号处理模块对所述PWM信号进行幅值变换及放大限流处理后输出至光耦测试卡座的输入端，所述光耦测试卡座的输出端连接分档切换模块，由分档切换模块根据当前待测光耦的参数切换测试档位，并输出测试结果。
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