[实用新型]一种光电耦合器的性能测试电路及装置

权利要求书

1.一种光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，包括电源模块、信号发生模块、信号处理模块、分档切换模块以及与待测光耦连接的光耦测试卡座；由电源模块根据当前待测光耦的输出速度输出对应的供电电压至信号发生模块，并由信号发生模块产生PWM信号输出至信号处理模块，由信号处理模块对所述PWM信号进行幅值变换及放大限流处理后输出至光耦测试卡座的输入端，所述光耦测试卡座的输出端连接分档切换模块，由分档切换模块根据当前待测光耦的参数切换测试档位，并输出测试结果。

2.根据权利要求1所述的光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，所述电源模块包括第一切换开关、第一供电单元和第二供电单元；当第一切换开关切换至第一通路时，由所述第一供电单元输出第一电压至信号发生模块，当第一切换开关切换至第二通路时，由所述第二供电单元输出第二电压至信号发生模块。

3.根据权利要求1所述的光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，所述信号发生模块包括用于产生PWM信号的信号发生器，用于对所述PWM信号进行频率调节处理的调频单元，用于调节PWM信号的比例积分参数的线性调节单元，以及用于补偿干扰信号产生的误差的补偿单元；所述调频单元、线性调节单元和补偿单元均连接所述信号发生器。

4.根据权利要求1所述的光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，所述信号处理模块包括幅值变换单元、放大单元和限流单元，所述PWM信号经幅值变换单元进行幅值调整后输出至放大单元，由所述放大单元对PWM信号进行推挽放大处理后输出至限流单元，经限流单元限流处理后输出至光耦测试卡座的输入端。

5.根据权利要求1所述的光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，所述分档切换模块包括切换单元和上拉单元，由切换单元根据当前待测光耦的参数切换测试档位，所述上拉单元根据当前的测试档位提供相应阻值的上拉电阻进行性能测试。

6.根据权利要求2所述的光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，所述第一供电单元包括第一稳压器、第一电容和第二电容，所述第二供电单元包括第二稳压器和第三电容，所述电源模块还包括电源接口；所述第一稳压器的VIN端连接电源接口的第2端、还通过第一电容接地，所述第一稳压器的VOUT端连接第二电容的一端、第二稳压器的VIN端、第一切换开关的第3端和信号发生模块；所述第二稳压器的VOUT端连接第一切换开关的第2端、还通过第三电容接地；所述第一切换开关的第1端连接分档切换模块；所述电源接口的第1端、第一稳压器的GND端、第二稳压器的GND端和第二电容的另一端均接地。

7.根据权利要求3所述的光电耦合器的性能测试电路，其特征在于，所述信号发生器包括控制芯片，所述调频单元包括第一电阻、第二电阻和第四电容，所述线性调节单元包括第五电容、第六电容、第七电容和第三电阻，所述补偿单元包括第一三极管、第四电阻和第五电阻；所述第一电阻的第一连接端和控制端连接控制芯片的VREF端，所述第一电阻的第二连接端通过第二电阻连接控制芯片的R/C端；所述第四电容的一端连接控制芯片的R/C端，所述第四电容的另一端接地；所述第五电容的一端连接控制芯片的VFB端，所述第五电容的另一端接地；所述第六电容的一端连接控制芯片的COMP端和第七电容的一端，所述第六电容的另一端接地；所述第七电容的另一端连接第三电阻的控制端；所述第三电阻的第一控制端连接第一三极管的集电极、还通过第五电阻连接控制芯片的VREF端，所述第三电阻的了另一端接地；所述第一三极管的基极连接控制芯片的R/C端，所述第一三极管的发射极连接第四电阻的第一连接端；所述第四电阻的控制端连接控制芯片的ISEN端，所述第四电阻的第二连接端接地；所述控制芯片的OUT端连接信号处理模块和光耦测试卡座的PWM端。