[实用新型]一种光电耦合器的性能测试电路及装置

说明书

技术领域

本实用新型涉光耦测试技术领域，特别涉及一种光电耦合器的性能测试电路及装置。

背景技术

光电耦合器(Optical Coupler,OC)是由发光二极管(LED)与光电三极管组合而成的集成器件，主要作用是进行电隔离，其体积小、寿命长、无触点、抗干扰、能隔离，并具有单向信号传输等特点，被广泛应用于各种光电及运动控制系统中。如用于空调机组的串口通讯、485通讯、开关电源反馈回路中、IGBT驱动芯片及驱动器中，高压隔离驱动电路中等等，对应用中使用光耦，一般考虑传输的信号、隔离特性及速度，现有光耦器件主要应用于数字信号的传输；另一类是线性光耦，有带反馈和无反馈型两种，这类器件在材料和生产工艺上采取了一定措施，使得光电器件的输入输出特性的非线性得到改善，无反馈型光耦一般应用于对线性区范围要求不大的场合，如开关电源输出的电压隔离反馈电路通用的PC817及NEC2501等，而带反馈型线性光耦，这类器件在生产工艺上又进了一步，使同一器件中的2个光耦的特性更加趋于一致，如CLARE公司生产的LOC系列线性光耦，惠普公司生产的HCRN200/201等线性光耦。光耦应用如此广泛，因此为保证各行业产品质量，对其筛选及校验就变得尤其重要。

现有技术中，专利CN201520858674.5公开了一种光耦测试电路板，包括：1个电源模块、1个现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，简称FPGA)最小系统和至少1个光耦测试电路；所述电源模块分别与所述FPGA最小系统和所述光耦测试电路连接，且所述FPGA最小系统与所述光耦测试电路连接。上述专利通过将被测光耦插在测试电路上，虽然一次可测试多个光耦，但使用了1个现场可编程门阵列，应用成本较高，对批量生产校验工装成本大，不适于大面积推广应用。

因而现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种光电耦合器的性能测试电路及装置，能对不同规格的光耦进行性能测试，电路简单，成本低廉，极大降低了光耦性能测试的成本，利于光耦测试的推广使用。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种光电耦合器的性能测试电路，其包括电源模块、信号发生模块、信号处理模块、分档切换模块以及与待测光耦连接的光耦测试卡座；由电源模块根据当前待测光耦的输出速度输出对应的供电电压至信号发生模块，并由信号发生模块产生PWM信号输出至信号处理模块，由信号处理模块对所述PWM信号进行幅值变换及放大限流处理后输出至光耦测试卡座的输入端，所述光耦测试卡座的输出端连接分档切换模块，由分档切换模块根据当前待测光耦的参数切换测试档位，并输出测试结果。

所述的光电耦合器的性能测试电路中，所述电源模块包括第一切换开关、第一供电单元和第二供电单元；当第一切换开关切换至第一通路时，由所述第一供电单元输出第一电压至信号发生模块，当第一切换开关切换至第二通路时，由所述第二供电单元输出第二电压至信号发生模块。

所述的光电耦合器的性能测试电路中，所述信号发生模块包括用于产生PWM信号的信号发生器，用于对所述PWM信号进行频率调节处理的调频单元，用于调节PWM信号的比例积分参数的线性调节单元，以及用于补偿干扰信号产生的误差的补偿单元；所述调频单元、线性调节单元和补偿单元均连接所述信号发生器。

所述的光电耦合器的性能测试电路中，所述信号处理模块包括幅值变换单元、放大单元和限流单元，所述PWM信号经幅值变换单元进行幅值调整后输出至放大单元，由所述放大单元对PWM信号进行推挽放大处理后输出至限流单元，经限流单元限流处理后输出至光耦测试卡座的输入端。

所述的光电耦合器的性能测试电路中，所述分档切换模块包括切换单元和上拉单元，由切换单元根据当前待测光耦的参数切换测试档位，所述上拉单元根据当前的测试档位提供相应阻值的上拉电阻进行性能测试。