[实用新型]一种太赫兹探测器有效
申请号: | 201720543163.3 | 申请日: | 2017-05-16 |
公开(公告)号: | CN206725102U | 公开(公告)日: | 2017-12-08 |
发明(设计)人: | 张鹏;董杰;龚侃;韩顺利;曹乾涛 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01J5/34 | 分类号: | G01J5/34 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司37221 | 代理人: | 赵妍 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种太赫兹探测器,从底层向上依次包括下电极、下粘结层、热释电材料、上粘结层、上电极及吸收层;上粘结层与下粘结层为TiW薄膜,采用磁控溅射技术把TiW均匀溅射到热释电材料的上、下表面;热释电材料的厚度为20μm~50μm;吸收层为碳纳米管浆料。上粘结层与下粘结层厚度均为40nm。上电极与下电极为Au,采用磁控溅射技术把Au均匀溅射到上粘结层的表面与下粘结层的表面。本实用新型对太赫兹脉冲激光具有较高的吸收率、热释电材料具有较大的电容,提高了太赫兹探测器的响应率。TiW具有较高的导电率和较好的附着力,不仅可以提高Au与热释电材料之间的附着力,而且可以把热释电材料产生的电荷很好的传输到Au薄膜层。 | ||
搜索关键词: | 一种 赫兹 探测器 | ||
【主权项】:
一种太赫兹探测器,其特征是,从底层向上依次包括下电极、下粘结层、热释电材料、上粘结层、上电极及吸收层;所述上粘结层与下粘结层为TiW薄膜,采用磁控溅射技术把TiW均匀溅射到热释电材料的上、下表面;所述热释电材料的厚度为20μm~50μm;所述吸收层为碳纳米管浆料。
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