[实用新型]一种近场测试系统有效
| 申请号： | 201720343250.4 | 申请日： | 2017-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN206876773U | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 于伟;漆一宏;刘列;金奇 | 申请（专利权）人： | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种近场测试系统，包括电波暗室，转台，N个测试天线(N为自然数且N＞1)，天线支撑结构，其特征在于，所述测试天线以距转台至少两种不同的距离安装于天线支撑结构上。本实用新型在一次扫描中可以得到距被测件至少两种不同距离的信号，通过计算可获得被测件的相位信息。因此在不增加测试时间的前提下，可避免连接线缆和使用额外的设备，降低了测试成本，也为无参考接口的有源天线的测试提供了一个简单快速的解决方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 近场 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种近场测试系统，包括电波暗室，转台，N个测试天线，N为自然数且N＞1，天线支撑结构，其特征在于，所述测试天线以距转台至少两种不同的距离安装于天线支撑结构上。
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