[实用新型]一种近场测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，尤其涉及一种无线性能参数的近场测试系统。

背景技术

天线近场测试分为球面、柱面和平面三种，平面近场测试一般用于波束较窄且法向辐射的天线，柱面近场测试一般用于在方位和俯仰其中一个扫描面有较宽波束而另一个面波束较窄的天线，而球面近场测试一般用于各种类型的天线。

一般来说，有源天线的测试采用远场测试的方式，但对于口径较大或是工作频段较高的天线，其远场距离较大，一般的远场测试条件无法满足，对于这种情况，可以采用近场测试。现有技术中，对有源天线的近场测试需采用发射机或者矢量网络分析仪，分别从发射源或者功率放大器端耦合一路参考信号至测量仪表，与测量天线的相位进行对比，得到采样的相位信息。这就需要连接额外的线缆和设备，一方面增加了测试成本，另一方面所增加的连接电缆线在一定程度上会造成测试结果的不确定性。此外，某些新型一体化的有源天线结构非常紧凑，没有预留用于上述参考设备的射频接口(以下简称“参考接口”)，则无法采用上述参考源的方式对有源天线的相位进行测试。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提出了一种适用于有源天线的近场测试系统，不需通过线缆连接额外的设备(矢量网络分析仪)，可对一体化的有源天线进行测试，尤其是可以对于有源相控阵天线及其单元进行相位校准和测量，以及相控阵天线辐射方向图的测量。

为实现上述目的，本实用新型第一方面实施例提出了一种技术方案：

一种近场测试系统，包括电波暗室，转台，N个测试天线(N为自然数且N＞1)，天线支撑结构，其特征在于，所述测试天线以距转台至少两种不同的距离安装于天线支撑结构上。

进一步，所述天线支撑结构还包括一个转动机构。

进一步，所述测试天线呈圆弧形排列，所述转台位于所述圆弧的圆心位置。

进一步，所述测试天线呈圆环形排列，所述转台位于所述圆环的圆心位置。

进一步，所述天线支撑结构还包括一个控制测试天线沿圆周方向转动的转动机构。

进一步，所述天线支撑结构沿圆周方向转动的角度小于或等于距转台相同距离的相邻测试天线的角度差的最大值。

相比现有的测试系统，本实用新型至少具有如下优点：

1.测试天线以距转台至少两种不同的距离安装于天线支撑结构上，在一次扫描中可以获得距被测件至少两种不同距离的信号，通过计算可获得被测件的相位信息。因此在不增加测试时间的前提下，可避免连接线缆和使用额外的设备，降低了测试成本，也为无参考接口的有源天线的测试提供了一个简单快速的解决方案。

2.配合转动机构的使用可形成更高分辨率的扫描面，提高测试的精度，并能减少测试天线的数量，从而降低暗室内测试天线之间的反射造成的干扰。

3.测试天线的空间排列可根据被测件测试需求的不同进行不同覆盖的设置，如被测件天线的主要辐射方向为法向或仅关注部分辐射特性，则可将测试天线布置为圆弧形，其弧度大小根据测试需求设置；如被测件天线为全向或关注整体辐射特性，则可将测试天线布置为360°的圆环形。

附图说明

本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本实用新型实施例1的示意图，图中未示出电波暗室；

图2为本实用新型实施例2的示意图，图中未示出电波暗室；

图3为本实用新型实施例3的示意图，图中未示出电波暗室；

图4为本实用新型实施例4的示意图，图中未示出电波暗室。

具体实施方式

以下对本实用新型的实施方式作详细说明。应该强调的是，下述说明仅仅是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。