[实用新型]一种近场测试系统有效
| 申请号： | 201720343250.4 | 申请日： | 2017-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN206876773U | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 于伟;漆一宏;刘列;金奇 | 申请（专利权）人： | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 近场 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种近场测试系统，包括电波暗室，转台，N个测试天线，N为自然数且N＞1，天线支撑结构，其特征在于，所述测试天线以距转台至少两种不同的距离安装于天线支撑结构上。
2.如权利要求1所述的近场测试系统，其特征在于，所述天线支撑结构还包括一个转动机构。
3.如权利要求1所述的近场测试系统，其特征在于，所述测试天线呈圆弧形排列，所述转台位于所述圆弧的圆心位置。
4.如权利要求1所述的近场测试系统，其特征在于，所述测试天线呈圆环形排列，所述转台位于所述圆环的圆心位置。
5.如权利要求3或4中任一所述的近场测试系统，其特征在于，所述天线支撑结构还包括一个控制测试天线沿圆周方向转动的转动机构。
6.如权利要求5所述的近场测试系统，其特征在于，所述天线支撑结构沿圆周方向转动的角度小于或等于距转台相同距离的相邻测试天线的角度差的最大值。
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