[实用新型]芯片智能检查机定位机构

摘要

本实用新型公开了一种芯片智能检查机定位机构，涉及半导体颗粒检测技术领域。包括底座以及定位平台，所述转台上设置有两个用于固定料盘的定位柱，定位柱与料盘上的缺口相配合，所述定位平台还包括一对用夹持料盘的，且相对设置的压块，所述压块上设置槽口用于料盘穿过，压块在气缸作用下可上下移动，所述转台上还设置用于支撑料盘的突出部件，突出部件上任意一点到转台轴心的距离均小于压块上任意一点到转台轴心的距离。料盘开始变形向上凸起，从而将料盘上的料带张紧，不仅便于检测，还可以防止器件的漏检。

主权项

芯片智能检查机定位机构，包括底座以及定位平台，所述底座下方设置相配合的下滑块和下滑轨，下滑块固定在底座上，底座在下滑块作用下可相对下滑轨滑动，底座上方固定设置上滑轨，定位平台下方固定设置与上滑轨相配合的滑块，定位平台可相对底座滑动，所述定位平台包括底盘和可绕底盘轴心转动的转台，所述转台上设置有两个用于固定料盘的定位柱，定位柱与料盘上的缺口相配合，其特征在于：所述定位平台还包括一对用夹持料盘的，且相对设置的压块，所述压块上设置槽口用于料盘穿过，压块在气缸作用下可上下移动，所述转台上还设置用于支撑料盘的突出部件，突出部件上任意一点到转台轴心的距离均小于压块上任意一点到转台轴心的距离。