[实用新型]一种半导体激光器芯片的测试系统有效
| 申请号： | 201720084471.4 | 申请日： | 2017-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN206546412U | 公开（公告）日： | 2017-10-10 |
| 发明（设计）人： | 胡海;刘文斌;王泰山;李成鹏;方继林 | 申请（专利权）人： | 深圳清华大学研究院;深圳瑞波光电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 518000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体激光器芯片的测试系统，包括测试柜、测试电源、空气粒子计数器和计算机处理子系统；测试柜，其包括装载平台，多个待测试的芯片组件放置在所述装载平台上；测试电源，用以向所述多个待测试的芯片组件提供测试电流；空气粒子计数器，设置在所述测试柜中，用于监控所述测试柜内的空气洁净度；计算机处理子系统，分别与所述测试电源和所述空气粒子计数器连接，用以根据所述空气洁净度，向所述测试电源发出相应的控制指令。通过上述方式，本实用新型能够提高测试的安全性，避免因半导体激光器芯片组件意外失效带来的损失。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体激光器芯片的测试系统，其特征在于，包括：测试柜，其包括装载平台，多个待测试的芯片组件放置在所述装载平台上；测试电源，用以向所述多个待测试的芯片组件提供测试电流；空气粒子计数器，设置在所述测试柜中，用于监控所述测试柜内的空气洁净度；计算机处理子系统，分别与所述测试电源和所述空气粒子计数器连接，用以根据所述空气洁净度，向所述测试电源发出相应的控制指令。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳清华大学研究院;深圳瑞波光电子有限公司，未经深圳清华大学研究院;深圳瑞波光电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720084471.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
