[实用新型]高度测微仪的高度测量基准有效
申请号: | 201720021997.8 | 申请日: | 2017-01-10 |
公开(公告)号: | CN206387348U | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 沈奇;陈继君 | 申请(专利权)人: | 无锡市通达滚子有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02 |
代理公司: | 苏州广正知识产权代理有限公司32234 | 代理人: | 马云玉 |
地址: | 214183*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种高度测微仪的高度测量基准,包括基准座,基准座上至少装配有2个基准台,所述基准台为圆柱体基准台,圆柱体的直径Ф1mm~Ф10mm,其上端面为测量平台。通过上述方式,本实用新型发明是可方便测量直径Ф1mm~Ф10mm,长度3mm~50mm的滚针和小滚子的高度尺寸,取保测量更精准,更稳妥。 | ||
搜索关键词: | 高度 测微仪 测量 基准 | ||
【主权项】:
一种高度测微仪的高度测量基准,其特征在于,包括:基准座,基准座上至少装配有2个基准台,所述基准台为圆柱体基准台,圆柱体的直径Ф1mm~Ф10mm,其上端面为测量平台。
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