[发明专利]验证激励生成方法、装置、芯片验证方法及系统有效
| 申请号： | 201711489330.1 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN109992462B | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 中科寒武纪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 11606 北京华进京联知识产权代理有限公司 | 代理人： | 孙岩 |
| 地址： | 100191 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种验证激励生成方法、装置、芯片验证方法及系统，通过对覆盖率数据的深度分析得到验证使用的验证激励对应的覆盖率提升值，然后根据覆盖率提升值是否达到预设阈值得到目标验证激励对应的约束文件，再对所述约束条件进行调整得到最终约束条件，最后根据最终约束条件得到验证激验证激励。由于该方法得到的验证激励是根据对覆盖率提升影响大的目标激励得到，在进行RTL仿真时可以加速芯片验证的覆盖率的收敛，提高芯片验证的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 芯片验证 约束条件 覆盖率 覆盖率数据 加速芯片 目标激励 目标验证 深度分析 约束文件 预设 收敛 | ||
【主权项】：
1.一种验证激励的生成方法，其特征在于，包括：/n对芯片验证的覆盖率数据进行数据分析，得到与验证激励对应的覆盖率提升值；/n将所述覆盖率提升值和预设阈值进行比较，根据比较结果得到目标激励；/n按照预设规则对所述目标激励对应的约束文件中约束条件进行调整，得到最终约束条件；其中，目标激励是芯片验证过程中对覆盖率提升贡献达到期望的激励，/n根据所述最终约束条件生成验证激励。/n
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