[发明专利]验证激励生成方法、装置、芯片验证方法及系统

说明书

本发明涉及一种验证激励生成方法、装置、芯片验证方法及系统，通过对覆盖率数据的深度分析得到验证使用的验证激励对应的覆盖率提升值，然后根据覆盖率提升值是否达到预设阈值得到目标验证激励对应的约束文件，再对所述约束条件进行调整得到最终约束条件，最后根据最终约束条件得到验证激验证激励。由于该方法得到的验证激励是根据对覆盖率提升影响大的目标激励得到，在进行RTL仿真时可以加速芯片验证的覆盖率的收敛，提高芯片验证的效率。

技术领域

本发明涉及验证技术领域，特别是涉及一种验证激励生成方法、装置、芯片验证方法、系统、存储介质及计算机设备。

背景技术

芯片验证的其中一个目的是检测芯片上运行的程序是否存在bug。在芯片验证时，芯片验证系统的RTL仿真器(Register Transfer level simulation)和验证模型执行激励生成装置生成的验证激励，输出执行结果，芯片验证系统的处理器根据该输出结果得到覆盖率数据，并根据得到的覆盖率数据是否达到预期判断芯片验证是否终止。覆盖率(Coverage)数据是用来评价验证过程与结果的一种量化指标。

目前在使用芯片验证系统进行芯片验证时产生激励的机制包括：

1)基于应用(Application based)生成激励：根据需测试的应用程序设置的约束文件(config-file)生成激励。

2)随机(Random)生成激励：根据随机产生约束文件(config-file)生成激励。

3)基于模板(Template base)生成激励：根据激励生成装置模板库中的约束文件(config-file)生成激励。模板库中约束文件包含根据需验证芯片的基本功能点设置的约束文件，以及对覆盖率的提升影响较高的激励对应的约束文件。

需验证芯片的基本功能点会随验证的需求(DUT/DUV design under test/verification)或芯片类型的改变而改变。例如：对于CPU而言，基本功能点可以包括浮点运算，定点运算，任务调度，内存分配，内存管理，数据IO。而对于人工神经网络芯片而言，基本功能点可以包括人工神经网络运算(比如卷积运算，矩阵运算，全连接运算)，任务调度，内存分配，内存管理，数据IO。

一般情形下，芯片验证得到的覆盖率数据涉及的激励越全面，RTL仿真器运行通过的激励越多，该芯片验证的覆盖率也就越高，对应验证的芯片的“保障程度”同样也越高。

在芯片验证时，随着RTL仿真器和验证模型执行的激励数的增多，覆盖率会相应的提升。但是，覆盖率在提升到一定数值后，即使RTL仿真器和验证模型继续执行激励，覆盖率也难以提升，这导致芯片的验证周期过长，验证效率低下。

因此，如何提供一种高效的芯片验证方法，便成为亟需解决的技术问题。

发明内容

基于此，有必要针对覆盖率在提升到一定数值后难以提升，导致芯片验证效率低的问题，提供一种验证激励的生成方法进行芯片验证，以提高芯片验证效率。

一种验证激励的生成方法，包括：

对芯片验证的覆盖率数据进行数据分析，得到与验证激励对应的覆盖率提升值；

将所述覆盖率提升值和预设阈值进行比较，根据比较结果得到目标激励；

按照预设规则对所述目标激励对应的约束文件中约束条件进行调整，得到最终约束条件；

根据所述最终约束条件生成验证激励。

在其中一个实施例中，对芯片验证的覆盖率数据进行数据分析，得到与验证激励对应的覆盖率提升值的步骤包括：

对所述当前芯片验证过程中的当前覆盖率数据进行分析运算，得到当前覆盖率数据中的验证激励，以及与所述验证激励对应的覆盖率提升值。