[发明专利]基于比色测温法的全视场熔池温度场检测系统在审
申请号: | 201711486908.8 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108279071A | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
发明(设计)人: | 韩静;余荣伟;陆骏;赵壮;柏连发;张毅 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01J5/20 | 分类号: | G01J5/20 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于比色测温法的全视场熔池温度场检测系统,包括分光镜、滤光片、CCD相机、FPGA、计算机;分光镜用于将入射光线分成两路相同的输出;滤光片用于选择特定波段的光通过;CCD相机用于熔池在选择的特定波段下进行成像;FPGA用于发出触发信号给CCD相机;计算机一方面用于控制FPGA,一方面用于对CCD相机输出的图像进行处理,计算得到熔池的温度场。本发明以比色测温法为基础,使用标准高温黑体对测温系统进行标定,在CMT工艺下,当焊接电流处于基值时,FPGA发出信号触发CCD相机,CCD相机采集的熔池图像几乎不受电弧光的干扰,之后计算机对采集的图像进行处理,计算可以得到高精度的熔池温度场。 | ||
搜索关键词: | 熔池 比色测温 温度场检测 分光镜 滤光片 全视场 温度场 波段 计算机 采集 黑体 弧光 图像 测温系统 触发信号 焊接电流 熔池图像 入射光线 信号触发 输出 标定 两路 受电 成像 | ||
【主权项】:
1.一种基于比色测温法的全视场熔池温度场检测系统,其特征在于,包括分光镜、两片滤光片、两个CCD相机、FPGA和计算机;所述分光镜用于将入射光线分成两路相同的输出;所述滤光片用于选择特定波段的光通过;所述CCD相机用于熔池在选择的特定波段下成像;所述FPGA用于发出触发信号给两个CCD相机;所述计算机一方面用于控制FPGA,另一方面用于对CCD相机输出的图像进行处理,计算得到熔池的温度场。
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