[发明专利]光学测试装置在审
| 申请号： | 201711482344.0 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108562540A | 公开（公告）日： | 2018-09-21 |
| 发明（设计）人： | 张维维 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰;武岑飞 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 提供了一种光学测试装置。所述光学测试装置包括样品光路和位于样品光路上并用于放置样品的透光孔，所述样品比所述透光孔小，所述光学测试装置还包括设置在所述样品光路上的聚光机构，以使所述样品光路上的光经所述聚光机构汇聚在所述样品上。本发明的光学测试装置通过汇聚样品光路上的光，缩小光斑的尺寸，从而能够准确聚焦在样品上，在解决样品过小的问题的同时，不降低光源强度。 | ||
| 搜索关键词： | 光学测试装置 样品光 聚光机构 透光孔 汇聚 光斑 样品光路 光源 聚焦 | ||
【主权项】：
1.一种光学测试装置，包括样品光路和位于样品光路上并用于放置样品的透光孔，其特征在于，所述样品比所述透光孔小，所述光学测试装置还包括设置在所述样品光路上的聚光机构，以使所述样品光路上的光经所述聚光机构汇聚在所述样品上。
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