[发明专利]光学测试装置在审
| 申请号： | 201711482344.0 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108562540A | 公开（公告）日： | 2018-09-21 |
| 发明（设计）人： | 张维维 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰;武岑飞 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学测试装置 样品光 聚光机构 透光孔 汇聚 光斑 样品光路 光源 聚焦 | ||
1.一种光学测试装置，包括样品光路和位于样品光路上并用于放置样品的透光孔，其特征在于，所述样品比所述透光孔小，所述光学测试装置还包括设置在所述样品光路上的聚光机构，以使所述样品光路上的光经所述聚光机构汇聚在所述样品上。
2.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述聚光机构包括一个或多个凸透镜。
3.根据权利要求2所述的光学测试装置，其特征在于，所述多个凸透镜间隔地设置在所述样品光路上。
4.根据权利要求2所述的光学测试装置，其特征在于，所述聚光机构还包括与所述凸透镜连接以调节所述凸透镜与所述样品之间的距离和/或调节所述凸透镜沿垂直于所述样品光路的方向的位置的调节组件。
5.根据权利要求4所述的光学测试装置，其特征在于，所述调节组件包括导轨和滑块，所述导轨沿所述样品光路设置，所述滑块设置在所述导轨上并能够在导轨上滑动。
6.根据权利要求5所述的光学测试装置，其特征在于，所述调节组件还包括能够在垂直于所述样品光路的方向上伸缩的伸缩构件，所述凸透镜通过所述伸缩构件与所述滑块连接。
7.根据权利要求4所述的光学测试装置，其特征在于，所述调节组件包括与所述凸透镜连接且能够在垂直于所述样品光路的方向上伸缩的伸缩构件。
8.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置还包括参比光路。
9.根据权利要求1所述的光学测试装置，其特征在于，所述透光孔为圆形、正方形或长方形。
10.根据权利要求1至9中任意一项所述的光学测试装置，其特征在于，所述光学测试装置为分光光度计。
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