[发明专利]一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法有效
| 申请号： | 201711445480.2 | 申请日： | 2017-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109974637B | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 张益成;聂勇;蔡家藩;谢航;冯美名;陈姝 | 申请（专利权）人： | 核动力运行研究所;中核武汉核电运行技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B17/00 | 分类号： | G01B17/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 李东斌 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及无损检测技术领域，具体公开了一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法。该方法具体包括如下步骤：1、对被检管材采集数据进行标定；2、对采集的被检管材标定信号进行周期分析；2.1、进行信号预处理，滤除异常信号；2.2、计算获取采集数据周期的标志位；2.3、对两个探头采集数据的每个周期数据重采样；3、对两探头采集数据的周期数据进行同相位数据统计分析；4、对被检管材进行信号采集；5、计算获得被检管材的外形尺寸；本发明所述的一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法，其可以通过同相位角对比，最大程度地消除机械安装误差和采集系统误差的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 转速 条件下 高精度 匹配 外形尺寸 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种高转速条件下高精度自匹配外形尺寸测量方法，其特征在于：该方法具体包括如下步骤：步骤1、对被检管材采集数据进行标定；步骤2、对采集的被检管材标定信号进行周期分析；步骤2.1、进行信号预处理，滤除异常信号；步骤2.2、计算获取采集数据周期的标志位；步骤2.3、对两个探头采集数据的每个周期数据重采样；步骤3、对两探头采集数据的周期数据进行同相位数据统计分析；步骤4、对被检管材进行信号采集；步骤5、计算获得被检管材的外形尺寸；按照以下公式计算某一周期某一相位角上的管材外形尺寸Dt：Dt＝D+ΔD其中，D为标定管标称直径；ΔD直径测量结果与标称值的差值。
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