[发明专利]一种提高碲化镉薄膜太阳电池测试准确性的激光刻划技术有效
申请号: | 201711442471.8 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108183144B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 郝霞;王文武;赖华贵;张静全;武莉莉 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | H01L31/0445 | 分类号: | H01L31/0445;H01L31/0296;H01L31/18;B23K26/362;B23K26/402;B23K26/60 |
代理公司: | 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 | 代理人: | 周新楣 |
地址: | 610064 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明为一种提高碲化镉薄膜太阳电池测试准确性的激光刻划技术,公开了一种精准定义碲化镉薄膜太阳电池面积的方法,属于化合物半导体薄膜太阳电池的结构设计技术领域。通过用脉冲Nd:YAG激光对具有完整器件结构的CdTe薄膜太阳电池进行激光刻划,可消除金属电极边缘残余吸收层材料CdTe的存在引起入射光的横向收集导致电流虚高,同时刻消除边缘残余碲化镉对器件串联电阻并联电阻造成的影响,从而提供一种经济可行的精准定义碲化镉薄膜太阳电池面积从而得到更为可信的电池效率曲线之方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 碲化镉 薄膜 太阳电池 测试 准确性 激光 刻划 技术 | ||
【主权项】:
1.本专利的特征是利用Nd:YAG脉冲激光分隔小面积碲化镉薄膜太阳电池,这是一种精准定义单元电池面积的新技术,包括:利用脉冲激光对完整结构的CdTe薄膜太阳电池进行分隔;利用脉冲激光刻划分隔CdTe薄膜太阳电池成为具有可精确定义的小面积电池之技术细节。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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