[发明专利]一种调节半导体激光器封装结构中的光栅的装置和方法在审
| 申请号： | 201711420493.4 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108152909A | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 刘瑞;何晓光;陈晓华 | 申请（专利权）人： | 北京凯普林光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B7/00 | 分类号： | G02B7/00;H01S5/0687;H01S5/00 |
| 代理公司： | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人： | 权鲜枝;何立春 |
| 地址： | 100070 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种调节半导体激光器封装结构中的光栅的装置和方法。所述装置包括：分光片、光谱仪、图像传感器和光栅调节装置；所述分光片，用于将经过半导体激光器封装结构中的光栅透射过的光分为两束光；所述光谱仪，用于接收所述两束光中的第一束光，并检测第一束光的光谱宽度；所述图像传感器，用于接收所述两束光中的第二束光，并检测第二束光的光斑特性；所述光栅调节装置，用于根据检测到的光谱宽度和光斑特性调节所述半导体激光器封装结构中的光栅。本发明通过同时监测光谱宽度和光斑特性，实现对半导体激光器封装结构中的光栅高精度调节，从而提高了半导体激光器波长输出的稳定性和半单体激光器的耦合效率。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 光栅 封装结构 光斑特性 光谱 光栅调节装置 图像传感器 光谱仪 分光片 检测 高精度调节 耦合效率 激光器 波长 透射 输出 监测 | ||
【主权项】：
一种调节半导体激光器封装结构中的光栅的装置，其特征在于，所述装置包括：分光片、光谱仪、图像传感器和光栅调节装置；所述分光片，用于将经过半导体激光器封装结构中的光栅透射过的光分为两束光；所述光谱仪，用于接收所述两束光中的第一束光，并检测第一束光的光谱宽度；所述图像传感器，用于接收所述两束光中的第二束光，并检测第二束光的光斑特性；所述光栅调节装置，用于根据检测到的光谱宽度和光斑特性调节所述半导体激光器封装结构中的光栅。
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