[发明专利]一种大范围及高精度的滚转角测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201711411843.0 | 申请日： | 2017-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN108168466B | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 王昭;齐静雅;黄军辉;高建民;齐红泽 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于滚转角的光电测量领域，具体公开了一种大范围及高精度的滚转角测量装置，包括双频激光器、分光棱镜、相位计和计算机；双频激光器的光轴前端设置分光棱镜，分光棱镜的反射光轴上依次设置有第一偏振片和第一光电探测器；分光棱镜的透射光轴上依次设置四分之一波片和消偏振分光棱镜；消偏振分光棱镜透射光轴方向依次设置后向棱镜反射镜、二分之一波片和四角锥反射器；四角锥反射器一侧设置有平面反射镜；消偏振分光棱镜反射方向设置第二偏振片和第二光电探测器；第一光电探测器和第二光电探测器与相位计连接，相位计连接计算机。本发明测量装置使相位差和二分之一波片的滚转成线性关系，提高了滚转角测量范围，体积小；测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 光电探测器 分光棱镜 消偏振分光棱镜 依次设置 相位计 滚转角测量装置 二分之一波片 双频激光器 透射光轴 反射器 偏振片 四角锥 发明测量装置 四分之一波片 测量精度高 滚转角测量 棱镜反射镜 平面反射镜 反射光轴 方向设置 光电测量 前端设置 线性关系 滚转角 体积小 相位差 计算机 光轴 滚转 后向 反射 测量 | ||
【主权项】：
1.一种大范围及高精度的滚转角测量装置，其特征在于，包括双频激光器(1)、分光棱镜(2)、相位计(13)和计算机(14)；双频激光器(1)的光轴前端设置分光棱镜(2)，分光棱镜(2)的反射光轴上依次设置有第一偏振片(3)和第一光电探测器(4)；分光棱镜(2)的透射光轴上依次设置四分之一波片(5)和消偏振分光棱镜(6)；消偏振分光棱镜(6)的透射光轴方向依次设置后向棱镜反射镜(7)、二分之一波片(8)和四角锥反射器(9)；四角锥反射器(9)一侧设置有用于将光反射并从原路返回至消偏振分光棱镜(6)的平面反射镜(10)；消偏振分光棱镜(6)的从平面反射镜(10)反射后光的反射方向设置第二偏振片(11)和第二光电探测器(12)；第一光电探测器(4)和第二光电探测器(12)分别与相位计(13)连接，相位计(13)连接计算机(14)；所述后向棱镜反射镜(7)包括两个相互垂直设置的镀介质膜反射镜，其中一个反射镜上设置有用于光通过和返回的通孔；穿过后向棱镜反射镜(7)通孔的光线与后向棱镜反射镜(7)的两个反射镜面均呈45度夹角。
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