[发明专利]一种基于反馈丰度约束的高光谱目标检测方法、系统、存储介质以及处理器在审
申请号: | 201711408728.8 | 申请日: | 2017-12-22 |
公开(公告)号: | CN107967694A | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 于纯妍;宋梅萍;赵猛;薛白;张建祎 | 申请(专利权)人: | 大连海事大学 |
主分类号: | G06T7/246 | 分类号: | G06T7/246 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司21212 | 代理人: | 王丹,李洪福 |
地址: | 116026 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于反馈丰度约束的高光谱目标检测方法、系统、存储介质以及处理器,其包括计算目标地物的光谱特征d以及自相关矩阵R;计算出高光谱图像中每个像元ri所对应的丰度信息f(ri);提取目标地物的空间特征ff(ri),将所提取的ff(ri)反馈融合至高光谱图像的光谱特征中并更新;线性归一化处理所述丰度信息f(ri)并定义光谱自相关矩阵为R′;进行目标地物检测以获得目标地物丰度信息fc(ri);进行二值化处理以获得待检测的目标地物。本发明在利用自相关矩阵对像元进行抑制的时候,能够降低异物同谱现象的影响,有助于目标地物的检测;同时将空间信息融入光谱特征中提高检测精度以解决现有技术中的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 反馈 约束 光谱 目标 检测 方法 系统 存储 介质 以及 处理器 | ||
【主权项】:
一种基于反馈丰度约束的高光谱目标检测方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、计算目标地物的光谱特征d以及自相关矩阵R,其中所述光谱特征d是通过对高光谱图像的标签信息进行计算获得,所述自相关矩阵R是通过对高光谱图像的所有像元信息进行计算获得;S2、根据光谱特征d以及自相关矩阵R的逆矩阵R‑1,以约束能量最小化方法计算出高光谱图像中每个像元ri所对应的丰度信息f(ri);S3、提取目标地物的空间特征ff(ri),将所提取的ff(ri)反馈融合至高光谱图像的光谱特征中并更新高光谱图像以及相应的目标地物的光谱特征,其中所述目标地物的空间特征ff(ri)通过高斯邻域算子与所述丰度信息f(ri)进行提取,更新后的高光谱图像为H′,对应的目标地物的光谱特征为d′;S4、线性归一化处理所述丰度信息f(ri),并定义基于丰度约束的高光谱图像H′的光谱自相关矩阵为R′;S5、根据目标地物的光谱特征d′以及光谱自相关矩阵为R′逆矩阵R′‑1,以约束能量最小化方法对基于丰度约束的高光谱图像H′进行目标地物检测以获得目标地物丰度信息fc(ri);S6、以自适应阈值方法,对目标地物丰度信息fc(ri)进行二值化处理以获得待检测的目标地物。
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