[发明专利]过温度检测电路及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201711344558.1 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN109932630B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 王惠琪 申请(专利权)人: 朋程科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾桃园市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种过温度检测电路及其测试方法。过温度检测电路的测试方法包括以下步骤。通过测试电路于第一温度下提供测试电流至过温度检测电路的第一电路。通过第一电路反应于测试电流而产生第一电压。通过过温度检测电路的比较电路将第一电压与第二电压进行比较以得到比较结果。通过测试电路根据比较结果判断是否调整测试电流。通过测试电路根据比较结果及测试电流来估测过温度检测电路的过温度检测点,其中第一温度不等于过温度检测点。
搜索关键词: 温度 检测 电路 及其 测试 方法
【主权项】:
1.一种过温度检测电路,其特征在于,包括:第一电路,用以反应于环境温度而产生第一电压;比较电路,耦接所述第一电路以接收所述第一电压,且将所述第一电压与第二电压进行比较以产生比较结果,并据以指示所述环境温度是否达到过温度检测点;以及测试电路,耦接所述比较电路以接收所述比较结果,且于测试模式下提供测试电流至所述第一电路,其中所述测试电路于所述环境温度为第一温度下根据所述比较结果来判断是否调整所述测试电流,致使所述第一电路反应于所述测试电流的变化而改变所述第一电压,且所述测试电路于所述第一温度下根据所述比较结果及所述测试电流来估测所述过温度检测点,其中所述第一温度不等于所述过温度检测点。
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