[发明专利]过温度检测电路及其测试方法

说明书

本发明提供一种过温度检测电路及其测试方法。过温度检测电路的测试方法包括以下步骤。通过测试电路于第一温度下提供测试电流至过温度检测电路的第一电路。通过第一电路反应于测试电流而产生第一电压。通过过温度检测电路的比较电路将第一电压与第二电压进行比较以得到比较结果。通过测试电路根据比较结果判断是否调整测试电流。通过测试电路根据比较结果及测试电流来估测过温度检测电路的过温度检测点，其中第一温度不等于过温度检测点。

技术领域

本发明涉及一种检测电路，尤其涉及一种过温度检测电路及其测试方法。

背景技术

电子装置的集成电路元件通常具有过温度保护电路，其中过温度保护电路可在电子装置或集成电路元件的温度达到过温度检测点时启动保护机制，以避免电子装置或集成电路元件因温度过高而损坏甚或发生危险。由此可知，过温度保护电路能否正常运作乃是事关重大。

一般来说，过温度保护电路的过温度检测点通常都很高(例如车用调节器的过温度检测点通常设计在175℃左右)，若要对过温度保护电路进行功能测试，势必得采用高温测试的方法方能测试其过温度检测点是否介于所设计的温度范围之内。然而，一般集成电路元件测试时所须使用的探针卡(probe card)可能无法承受极高温，使得高温测试有其难度。除此之外，若要对集成电路元件中的过温度保护电路进行高温测试，势必得将集成电路元件加热并维持在特定温度之后方能进行测试工作，如此的测试方法将会增加整体的测试成本及测试时间。因此，如何降低过温度保护电路的测试难度、测试成本及测试时间，乃是本领域技术人员所面临的重大课题之一。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种过温度检测电路及其测试方法，可在常温之下测试过温度检测电路的功能，以降低过温度检测电路的测试难度、测试成本及测试时间。

本发明的过温度检测电路包括第一电路、比较电路以及测试电路。第一电路用以反应于环境温度而产生第一电压。比较电路耦接第一电路以接收第一电压，且将第一电压与第二电压进行比较以产生比较结果，并据以指示环境温度是否达到过温度检测点。测试电路耦接比较电路以接收比较结果，且于测试模式下提供测试电流至第一电路。测试电路于环境温度为第一温度下根据比较结果来判断是否调整测试电流，致使第一电路反应于测试电流的变化而改变第一电压。测试电路于第一温度下根据比较结果及测试电流来估测过温度检测点，其中第一温度不等于过温度检测点。

本发明的过温度检测电路的测试方法包括以下步骤。通过测试电路于第一温度下提供测试电流至过温度检测电路的第一电路。通过第一电路反应于测试电流而产生第一电压。通过过温度检测电路的比较电路将第一电压与第二电压进行比较以得到比较结果。通过测试电路根据比较结果判断是否调整测试电流。通过测试电路根据比较结果及测试电流来估测过温度检测电路的过温度检测点，其中第一温度不等于过温度检测点。

基于上述，本发明所提出的过温度检测电路及其测试方法，可在第一温度(例如常温)之下估测出过温度检测电路的过温度检测点。因此，相较于将过温度检测电路置于高温环境中以测量其过温度检测点的测试方法，本发明实施例所提出的过温度检测电路及其测试方法可有效降低过温度检测电路的测试难度、测试成本及测试时间。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

下面的所附附图是本发明的说明书的一部分，示出了本发明的示例实施例，所附附图与说明书的描述一起说明本发明的原理；

图1是依照本发明一实施例所示出的过温度检测电路的方块示意图；

图2是依照本发明另一实施例所示出的过温度检测电路的方块示意图；

图3是图2的第一电压及第二电压与环境温度的关系示意图；

图4是依照本发明一实施例所示出的测试方法的步骤流程图；