[发明专利]一种提高分步重复精缩机制作4寸版曝光面积的方法有效
申请号: | 201711337369.1 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108196422B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 蒋玉贺;董磊;王芳 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十七研究所 |
主分类号: | G03F1/68 | 分类号: | G03F1/68;G03F1/70 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 李巨智 |
地址: | 110032 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及一种提高分步重复精缩机制作4寸版曝光面积的方法,在掩模版的曝光区域内输入曝光面积,并根据曝光面积建立坐标系;对初缩版按X轴和Y轴方向的步距进行曝光,得到精缩版;在已曝光的精缩版最上方一行向上移位,得到向上移位后的坐标;同时在已曝光的精缩版最下方一行向下移位,得到向下移位后的坐标;以向上移位后的坐标为原点,对向上移位后的精缩版按X轴和Y轴方向的步距进行曝光;以向下移位后的坐标为原点,对向下移位后的精缩版按X轴和Y轴方向的步距进行曝光。本发明提高4寸掩摸版制作面积,满足市场需求,增加经济效益,突破了设备的限制,解决了4寸版架和聚焦的限制下Y向长度不能超过76mm的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 分步 重复 机制 曝光 面积 方法 | ||
【主权项】:
1.一种提高分步重复精缩机制作4寸版曝光面积的方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:在掩模版的曝光区域内输入曝光面积,并根据曝光面积建立坐标系;步骤2:对初缩版按X轴和Y轴方向的步距进行曝光,得到精缩版;步骤3:在已曝光的精缩版最上方一行向上移位,得到向上移位后的坐标;同时在已曝光的精缩版最下方一行向下移位,得到向下移位后的坐标;步骤4:以向上移位后的坐标为原点,对向上移位后的精缩版按X轴和Y轴方向的步距进行曝光;以向下移位后的坐标为原点,对向下移位后的精缩版按X轴和Y轴方向的步距进行曝光。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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