[发明专利]一种用于检测X光机材料分辨力的方法及系统在审
| 申请号： | 201711298180.6 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108181328A | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 石宇;杨雪琴;徐卉;邵枭虎;周祥东 | 申请（专利权）人： | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01V5/08 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 尹丽云 |
| 地址： | 400714 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于检测X光机材料分辨力的方法及系统，方法包括采集材料分辨测试体通过X光机的图像；对采集的材料分辨测试体图像进行图像处理，获取材料分辨测试体图像的颜色梯度；根据所述颜色梯度与标准颜色梯度进行对比，判断X光机材料分辨力的是否达标；本发明中能够根据标准测试箱成像，自动、实时、客观地完成X光机材料分辨力的判别，可应用于不同型号X光安检机的测试，广泛应用于机场、高铁站等需要X光安检的场所，用于检测X光机的性能，提高安检的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 材料分辨 颜色梯度 测试体 图像 安检 检测 标准测试 标准颜色 采集材料 分辨测试 图像处理 准确度 高铁 成像 应用 采集 测试 达标 机场 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，包括：采集材料分辨测试体通过X光机的图像；对采集的材料分辨测试体图像进行图像处理，获取材料分辨测试体图像的颜色梯度；根据所述颜色梯度与标准颜色梯度进行对比，判断X光机材料分辨力的是否达标。
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