[发明专利]一种用于检测X光机材料分辨力的方法及系统

权利要求书

1.一种用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，包括：

采集材料分辨测试体通过X光机的图像；

对采集的材料分辨测试体图像进行图像处理，获取材料分辨测试体图像的颜色梯度；

根据所述颜色梯度与标准颜色梯度进行对比，判断X光机材料分辨力的是否达标。

2.根据权利要求1所述的用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，所述材料分辨测试体包括多个测试卡，对每个测试卡的区域位置进行定位，并对采集的材料分辨测试体图像进行图像校正。

3.根据权利要求2所述的用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，所述测试卡为多个，多个测试卡依次安装于固定板，形成材料分辨测试体，根据每个测试卡的区域位置，通过对测试卡进行图像处理获取材料分辨测试体的颜色梯度。

4.根据权利要求3所述的用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，所述图像校正包括，定位到采集的材料分辨测试体图像中的蓝色区域，其中，连通域最宽的区域为无机物分辨测试卡，连通域最窄的区域为材料分辨测试卡，并根据无机物分辨测试卡的角度，以及无机物分辨测试卡和材料分辨测试卡的相对位置，对图像进行旋转校正。

5.根据权利要求4所述的用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，将进行旋转校正后的图像转换到HSV颜色空间，根据颜色分量获取连通域之间的位置关系，对各测试卡区域进行定位。

6.根据权利要求5所述的用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，将每个测试卡区域图像进行均分成若干区域块，分别计算每个区域块图像的颜色峰值，并将颜色峰值的RGB三个颜色通道的平均值作为颜色深度值。

7.根据权利要求6所述的用于检测X光机材料分辨力的方法，其特征在于，根据每个区域块的颜色深度值获取各个测试卡区域的颜色梯度，将所述颜色梯度与标准颜色梯度进行对比，如果一致，则判定X光机的分辨测试能力合格，如果不一致，则判定X光机的分辨测试能力不合格。

8.一种用于检测X光机材料分辨力的系统，其特征在于，包括：

图像采集单元，用于采集材料分辨测试体通过X光机的图像；

图像处理单元，用于对采集的材料分辨测试体图像进行图像处理，获取材料分辨测试体图像的颜色梯度；

判断单元，用于根据所述颜色梯度与标准颜色梯度进行对比，判断X光机材料分辨力的是否达标。

9.根据权利要求8所述的用于检测X光机材料分辨力的系统，其特征在于，所述材料分辨测试体包括多个测试卡，所述测试卡依次安装于固定板，形成材料分辨测试体，根据每个测试卡的区域位置，通过对测试卡进行图像处理获取材料分辨测试体的颜色梯度。

10.根据权利要求9所述的用于检测X光机材料分辨力的系统，其特征在于，所述图像处理单元包括：

图像校正模块，用于对采集的图像进行旋转校正；

图像定位模块，用于对各测试卡区域进行定位；

颜色梯度模块，用于获取各个测试卡区域的颜色梯度。