[发明专利]一种计算激光加工系统工艺参数的方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201711283012.X | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN108038297B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 肖磊;卢相安;梅领亮;徐地华 | 申请（专利权）人： | 广东正业科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;B23K26/362 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 523808 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种计算激光加工系统工艺参数的方法、装置及系统，包括利用控制变量法及预先确定的、与各个影响因素分别对应的各个初始值确定出与各个影响因素一一对应的各个第一优区间；利用黄金分割法从各个第一优区间中确定出与各个影响因素分别对应的因素水平；依据各个因素水平建立因素水平表和正交表格，并依据因素水平表和正交表格进行初次正交实验得到第一实验结果；依据第一实验结果确定出各个影响因素的性质及与各个影响因素一一对应的各个优水平；依据各个影响因素的性质及各个优水平确定出最优工艺参数组合。本发明实施例提高了因素水平、因素水平表和正交表格的精确度，从而提高了最优工艺参数组合的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计算 激光 加工 系统 工艺 参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种计算激光加工系统工艺参数的方法，其特征在于，包括：S11：利用控制变量法及预先确定的、与各个影响因素分别对应的各个初始值确定出与各个所述影响因素一一对应的各个第一优区间；S12：利用黄金分割法从各个所述第一优区间中确定出与各个所述影响因素分别对应的因素水平；S13：依据各个所述因素水平建立因素水平表和正交表格，并依据所述因素水平表和所述正交表格进行初次正交实验得到第一实验结果；S14：依据所述第一实验结果确定出各个所述影响因素的性质及与各个所述影响因素一一对应的各个优水平；S15：依据各个所述影响因素的性质及各个所述优水平确定出最优工艺参数组合。
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