[发明专利]一种计算激光加工系统工艺参数的方法、装置及系统

说明书

本发明实施例公开了一种计算激光加工系统工艺参数的方法、装置及系统，包括利用控制变量法及预先确定的、与各个影响因素分别对应的各个初始值确定出与各个影响因素一一对应的各个第一优区间；利用黄金分割法从各个第一优区间中确定出与各个影响因素分别对应的因素水平；依据各个因素水平建立因素水平表和正交表格，并依据因素水平表和正交表格进行初次正交实验得到第一实验结果；依据第一实验结果确定出各个影响因素的性质及与各个影响因素一一对应的各个优水平；依据各个影响因素的性质及各个优水平确定出最优工艺参数组合。本发明实施例提高了因素水平、因素水平表和正交表格的精确度，从而提高了最优工艺参数组合的精确度。

技术领域

本发明实施例涉及激光加工技术领域，特别是涉及一种计算激光加工系统 工艺参数的方法、装置及系统。

背景技术

寻找最优参数组合是工业生产和科研中经常面对的问题，当多个参数同时 对实验结果造成影响时，使用科学的实验方法，并在尽量减少实验次数的同时 找到符合工业生产和科研要求的最优参数组合具有十分重要的意义。

激光打标技术是激光加工最大的应用领域之一。激光打标是利用高能量密 度的激光对工件进行局部照射，使表层材料汽化或发生颜色变化的化学反应， 从而留下永久性标记的一种打标方法。激光打标可以打出各种文字、符号和图 案等，字符大小可以从毫米到微米量级，这对产品的防伪有特殊的意义。在激 光打标工业中影响打标效果的参数有多个，如何寻找到这些参数的最佳组合、 并在最优参数组合下雕刻出符合生产要求的图样，在激光打标工业中是十分重 要的。

目前，激光打标领域通常采用正交实验法进行参数组合寻优，但是，在进 行正交实验的前期通常都基于人工经验确定因素水平和制定正交因素水平表， 缺乏客观、科学的方法，使确定的因素水平和制定的正交因素水平表不精确， 导致最终寻求的参数组合的精确度低，从而影响图案质量。

鉴于此，如何提供一种解决上述技术问题的计算激光加工系统工艺参数的 方法、装置及系统，成为本领域技术人员目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种计算激光加工系统工艺参数的方法、装置 及系统，提高了因素水平、因素水平表和正交表格的精确度，从而提高了最优 工艺参数组合的精确度，以使在该最优工艺参数组合下雕刻出的图案质量提 高。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种计算激光加工系统工艺参 数的方法，包括：

S11：利用控制变量法及预先确定的、与各个影响因素分别对应的各个初 始值确定出与各个所述影响因素一一对应的各个第一优区间；

S12：利用黄金分割法从各个所述第一优区间中确定出与各个所述影响因 素分别对应的因素水平；

S13：依据各个所述因素水平建立因素水平表和正交表格，并依据所述因 素水平表和所述正交表格进行初次正交实验得到第一实验结果；

S14：依据所述第一实验结果确定出各个所述影响因素的性质及与各个所 述影响因素一一对应的各个优水平；

S15：依据各个所述影响因素的性质及各个所述优水平确定出最优工艺参 数组合。

可选的，所述依据各个所述影响因素的性质及各个所述优水平确定出激光 打标最优参数组合的过程包括：

S150：依据各个所述影响因素的性质及各个所述优水平确定出非显著因素 的最优参数及各个显著因素，并将各个所述显著因素作为当前影响因素；

S151：依据各个所述第一优区间和各个所述优水平确定出与各个所述当前 影响因素一一对应的各个当前优区间；

S152：依据所述黄金分割法、各个所述当前优区间确定出当前迭代正交实 验中的各个所述当前影响因素分别对应的各个当前因素水平；